DCT1401

半導體功率器件靜態參數測試儀系統

DCT1401半導體功率器件靜態參數測試儀系統能測試很多電子元器件的靜態直流參數（如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電壓/VGE(th)、開啟電壓/VCE(on)、跨導/Gfe/Gfs、壓降/Vf、導通內阻Rds(on)）。

測試種類覆蓋 7 大類別26分類，包括“二極管類”“三極管類（如BJT、MOSFET、IGBT）”“保護類器件”“穩壓集成類”“繼電器類”“光耦類”“傳感監測類”等品類的繁多的電子元器件。

高壓源標配1400V（選配2KV），高流源標配100A（選配40A,200A）

控制極/柵極電壓40V，柵極電流10mA

分辨率最高至1mV / 1nA，精度最高可至0.5%

DCT1401半導體功率器件靜態參數測試儀系統適用于功率器件測試還可測試“結電容”，支持“脈沖式一鍵加熱”和“分選機連接”

*

1.1、產品信息

產品型號：DCT1401

產品名稱：半導體功率器件靜態參數測試儀系統

1.2、物理規格

主機尺寸：深660*寬430*高210(mm)

主機重量：＜35kg

主機顏色：白色系

1.3、電氣環境

主機功耗：＜300W

海拔高度：海拔不超過 4000m；

環境要求：-20℃～60℃（儲存）、5℃～50℃（工作）；

相對濕度： 20%RH～75%RH (無凝露，濕球溫度計溫度 45℃以下)；

大氣壓力：86Kpa～106Kpa；

防護條件：無較大灰塵，腐蝕或爆炸性氣體，導電粉塵等；

電網要求：AC220V、±10%、50Hz±1Hz；

工作時間：連續；

1、測試分析（功率器件研發設計階段的初始測試，主要功能為功率器件測試）

2、失效分析（對失效器件進行測試分析，查找失效機理。以便于對電子整機的整體設計和使用過程提出改善方案）

3、選型配對（在器件焊接至電路板之前進行全部測試，將測試數據比較一致的器件進行分類配對）

4、來料檢驗（研究所及電子廠的質量部（IQC）對入廠器件進行抽檢/全檢，把控器件的良品率）

5、量產測試（可連接機械手、掃碼槍、分選機等各類輔助機械設備，實現規模化、自動化測試）

6、替代進口（DCT1401半導體功率器件靜態參數測試儀系統可替代同級別進口產品）

*

1、程控高壓源10~1400V，提供2000V選配；

2、程控高流源1uA~100A，提供40A,200A選配；

3、驅動電壓10mV~40V

4、控制極電流10uA~10mA；

5、16位ADC，100K/S采樣速率；

6、自動識別器件極性 NPN/PNP

7、功率器件測試，四線開爾文連接保證加載測量的準確

8、通過 RS232 接口連接校準數字表，對系統進行校驗

9、不同的封裝形式提供對應的夾具和適配器（如TO220、SOP-8、DIP、SOT-23等等）

10、半導體功率器件靜態參數測試儀系統能測很多電子元器件（如二極管、三極管、MOSFET、IGBT、可控硅、光耦、繼電器等等）；

11、半導體功率器件靜態參數測試儀系統能實現功率器件測試（如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電壓/VGE(th)、開啟電壓/VCE(on)、跨導/Gfe/Gfs、壓降/Vf、導通內阻Rds(on) ）

12、結電容參數也可以測試，諸如Cka，Ciss，Crss，Coss；

13、脈沖電流自動加熱功能，方便高溫測試，無需外掛升溫裝置；

14、Prober 接口、Handler 接口可選（16Bin），連接分選機最高效率1h/9000個；

15、半導體功率器件靜態參數測試儀系統在各大電子廠的IQC、實驗室有著廣泛的應用；

DCT1401半導體功率器件靜態參數測試儀系統 是由我公司技術團隊結合半導體功率器件靜態參數測試儀系統的多年經驗，以及眾多國內外測試系統產品的熟悉了解后，完全自主開發設計的全新一代“半導體功率器件靜態參數測試儀系統”。軟件及硬件均由團隊自主完成。這就決定了這款產品的功能性和可靠性能夠得到持續完善和不斷的提升。

半導體功率器件靜態參數測試儀系統脈沖信號源輸出方面，高壓源標配1400V（選配2KV），高流源標配100A（選配40A,200A）柵極電壓40V，柵極電流10mA，分辨率最高至1mV / 30pA，精度最高可至0.5%。程控軟件基于Lab VIEW平臺編寫，填充式菜單界面。采用帶有開爾文感應結構的測試插座，自動補償由于系統內部及測試電纜長度引起的任何壓降，保證測試結果準確可靠。產品可測試 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs, DIODEs, MOSFETs, BJTs, SCRs 等7大類26分類的電子元器件。涵蓋電子產品中幾乎所有的常見器件。無論電壓電流源還是功能配置都有著極強的擴展性。

產品為桌面放置的臺式機結構，由測試主機和程控電腦兩大部分組成。外掛各類夾具和適配器，還能夠通過Prober 接口、Handler 接口可選（16Bin）連接分選機和機械手建立工作站，實現快速批量化測試。通過軟件設置可依照被測器件的參數等級進行自動分類存放。能夠極好的應對“來料檢驗”“失效分析”“選型配對”“量產測試”等不同場景。

半導體功率器件靜態參數測試儀系統產品的可靠性和測試數據的重復性以及測試效率都有著非常優秀的表現。創新的“點控式夾具”讓操作人員在夾具上實現一點即測。操作更簡單效率更高。測試數據可保存為EXCEL文本，方便快捷的完成功率器件測試。

*

DCT1401半導體功率器件靜態參數測試儀系統的功能配置如下

*

DCT1401半導體功率器件靜態參數測試儀系統的適配器有如下

*

DCT1401半導體功率器件靜態參數測試儀系統的測試種類和參數如下

(1)二極管類：二極管  Diode

Kelvin，Vrrm，Irrm，Vf，△Vf，△Vrrm，Cka，Tr（選配）；

(2)二極管類：穩壓二極管  ZD（Zener Diode）

Kelvin，Vz，lr，Vf，△Vf，△Vz，Roz，lzm，Cka；

(3)二極管類：穩壓二極管  ZD（Zener Diode）

Kelvin、Vz、lr、Vf、△Vf、△Vz、Roz、lzm、Cka；

(4)二極管類：三端肖特基二極管SBD（SchottkyBarrierDiode）

Kelvin 、Type_ident 、Pin_test 、Vrrm、Irrm、Vf、△Vf、V_Vrrm、I_Irrm、△Vrrm、Cka、Tr（選配）；

(5)二極管類：瞬態二極管  TVS

Kelvin 、Vrrm 、Irrm、Vf、△Vf、△Vrrm 、Cka ；

(6)二極管類：整流橋堆

Kelvin 、Vrrm、Irrm、Ir_ac、Vf、△Vf、△Vrrm 、Cka；

(7)二極管類：三相整流橋堆

Kelvin 、Vrrm 、Irrm、Ir_ac、Vf、△Vf、△Vrrm、Cka；

(8)三極管類：三極管

Kelvin 、Type_ident、Pin_chk 、V(br)cbo 、V(br)ceo 、V(br)ebo 、Icbo、lceo、Iebo、Hfe、Vce(sat)、Vbe(sat)、△Vsat、△Bvceo 、△Bvcbo 、Vbe、lcm、Vsd 、Ccbo 、Cces、Heater、Tr （選配）、Ts（選配）、Value_process；

(9) 三極管類：雙向可控硅

Kelvin、Type_ident、Qs_chk、Pin_test、Igt、Vgt、Vtm、Vdrm、Vrrm、Vdrm rrm、Irrm、 Idrm、Irrm_drm、Ih、IL、C_vtm、△Vdrm、△Vrrm、△Vtm；

(10)三極管類：單向可控硅

Kelvin、 Type_ident、 Qs_chk、 Pin test、 lgt、 Vgt、 Vtm、 Vdrm Vrrm、 IH、IL、△Vdrm△Vrrm、Vtm；

(11)三極管類：MOSFET

Kelvin 、Type_ident、Pin_test、VGS(th) 、V(BR)Dss 、Rds(on) 、Bvds_rz、△Bvds、Gfs、Igss、ldss 、Idss zero 、Vds(on)、 Vsd、Ciss、Coss、Crss、Bvgs 、ld_lim 、Heater、Value_proces、△Rds(on) ；

(12)三極管類：雙MOSFET

Kelvin、 Pin_chk、Ic_fx_chk、 Type_ident、 Vgs1(th)、 VGs2(th)、 VBR)Dss1、 VBR)Dss2、 Rds1(on)、 Rds2(on)、 Bvds1 rz、 Bvds2_rz、 Gfs1、Gfs2、lgss1、lgss2、Idss1、Idss2、Vsd1、Vsd2、Ciss、Coss、Crss；

(13)三極管類：JFET

Kelvin、VGS(off )、V(BR)Dss、Rds(on)、Bvds_rz、Gfs、lgss、 Idss(off)、 Idss(on)、 vds(on)、 Vsd、Ciss、Crss、Coss；

(14)三極管類：IGBT

Kelvin、VGE(th)、V(BR)CES、Vce(on)、Gfe、lges、 lces、Vf、Ciss、Coss、Crss；

(15)三極管類：三端開關功率驅動器

Kelvin、Vbb(AZ)、 Von(CL)、 Rson、Ibb(off)、Il(lim)、Coss、Fun_pin_volt；

(16)三極管類：七端半橋驅動器

Kelvin、lvs(off)、lvs(on)、Rson_h、Rson_l、lin、Iinh、ls_Volt、Sr_volt；

(17)三極管類：高邊功率開關

Kelvin、Vbb(AZ)、Von(CL)、Rson、Ibb(off)、ll(Iim)、Coss、Fun_pin_volt；

(18)保護類：壓敏電阻

Kelvin、Vrrm、 Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、 △Vr ;

(19)保護類：單組電壓保護器

Kelvin 、Vrrm、Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、△Vr；

(20)保護類：雙組電壓保護器

Kelvin、Vrrm、Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、△Vr；

(21)穩壓集成類：三端穩壓器

Kelvin 、Type_ident 、Treg_ix_chk 、Vout 、Reg_Line、Reg_Load、IB、IB_I、Roz、△IB、VD、ISC、Max_lo、Ro、Ext _Sw、Ic_fx_chk；

(22)穩壓集成類：基準IC（TL431）

Kelvin、Vref、△Vref、lref、Imin、loff、Zka、Vka；

(23)穩壓集成類：四端穩壓

Kelvin、Type_ident、Treg_ix_chk、Vout、Reg_Line、Reg_Load、IB、IB_I、Roz、△lB、VD、Isc、Max_lo、Ro、Ext_Sw、Ic_fx_chk；

(24)穩壓集成類：開關穩壓集成器

選配；

(25)繼電器類：4腳單刀單組、5腳單刀雙組、8腳雙組雙刀、8腳雙組四刀、固態繼電器

Kelvin、Pin_chk、Dip6_type_ident、Vf、Ir、Vl、Il、Ift、Ron、Ton（選配）、Toff（選配）；

(26)光耦類：4腳光耦、6腳光耦、8腳光耦、16腳光耦

Kelvin、Pin_chk、Vf、Ir、Bvceo、Bveco、Iceo、Ctr、Vce(sat)、Tr、Tf；

(27)傳感監測類：

電流傳感器（ACS712XX系列、CSNR_15XX系列）（選配）；

霍爾器件（MT44XX系列、A12XX系列）（選配）；

電壓監控器（選配）；

電壓復位IC（選配）；

功率器件測試

DCT1401半導體功率器件靜態參數測試儀系統的性能指標如下

（1）加壓(FV)

量程±40V分辨率19.5mV精度±1% 設定值±10mV

量程±20V分辨率10mV精度±1% 設定值±5mV

量程±10V分辨率5mV精度±1% 設定值±3mV

量程±5V分辨率2mV精度±1% 設定值±2mV

量程±2V分辨率1mV精度±1% 設定值±2mV

（2）加流(FI)

量程±40A 分辨率19.5mA精度±2% 設定值±20mA

量程±4A 分辨率1.95mA精度±1% 設定值±2mA

量程±400mA分辨率1195uA精度±1% 設定值±200uA

量程±40mA分辨率119.5uA精度±1% 設定值±20uA

量程±4mA分辨率195nA精度±1% 設定值±200nA

量程±400uA分辨率19.5nA精度±1% 設定值±20nA

量程±40uA分辨率1.95nA精度±1% 設定值±2nA

說明：電流大于1.5A自動轉為脈沖方式輸出，脈寬范圍：300us-1000us可調

（3）電流測量(MI)

量程±40A分辨率1.22mA精度±1% 讀數值±20mA

量程±4A分辨率122uA精度±0.5% 讀數值±2mA

量程±400mA分辨率12.2uA精度±0.5% 讀數值±200uA

量程±40mA分辨率1.22uA精度±0.5% 讀數值±20uA

量程±4mA分辨率122nA精度±0.5% 讀數值±2uA

量程±400uA分辨率12.2nA精度±0.5% 讀數值±200nA

量程±40uA分辨率1.22nA精度±1% 讀數值±20nA

（4）電壓測量(MV)

量程±40V分辨率1.22mV精度±1% 讀數值±20mV

量程±20V分辨率122uV 精度±0.5% 讀數值±2mV

量程±10V分辨率12.2uV 精度±0.5% 讀數值±200uV

量程±5V分辨率1.22uV 精度±0.5% 讀數值±20uV

16位ADC，100K/S采樣速率

（1）電壓測量(MV)

量程±2000V分辨率1.22mV精度±1%讀數值±20mV

量程±100V分辨率122uV精度±0.5%讀數值±2mV

量程±10V分辨率12.2uV精度±0.5%讀數值±200uV

量程±1V分辨率1.22uV精度±0.5%讀數值±20uV

（2）漏電流測量(MI)

量程±100mA分辨率30uA精度±1%讀數值±30uA

量程±10mA分辨率3uA精度±1%讀數值±3uA

量程±1mA分辨率300nA精度±1%讀數值±300nA

量程±100uA分辨率30nA精度±1%讀數值±30nA

量程±10uA分辨率3nA精度±1%讀數值±10nA

量程±1uA 分辨率300pA精度±1%讀數值±10nA

量程±100nA分辨率30pA精度±1%讀數值±5nA

（3）電容容量測量(MC)

量程6nF分辨率10PF精度±5%讀數值±50PF

量程60nF分辨率100PF精度±5%讀數值±100PF

（1）加壓(FV)

量程1400V/5mA分辨率30.5mV精度±0.5%設定值±500mV

量程200V/10mA分辨率30.5mV精度±0.5%設定值±500mV

量程40V/50mA分辨率30.5mV精度±0.5%設定值±500mV

（2）加流(FI)：

量程10mA分辨率4.88uA 精度±2%設定值±10uA

量程2mA分辨率488nA精度±1%設定值±2uA

量程200uA分辨率48.8nA精度±1%設定值±200nA

量程20uA分辨率4.88nA精度±1%設定值±20nA

量程2uA分辨率488pA精度±2%設定值±10nA

DCT1401半導體功率器件靜態參數測試儀系統能測很多電子元器件（如二極管、三極管、MOSFET、IGBT、可控硅、光耦、繼電器等等）產品廣泛的應用在院所高校、封測廠、電子廠......

-----------------------------------------------   

趙女士  市場部 · 經理 / 18092643147

西安天光測控技術有限公司   www.xatgck.com

西安市高新區錦業路12號（非收件地址）  710076

+86-029-87309001   xatgck_mailbox@163.com

-----------------------------------------------

半 導 體 器 件 電 學 檢 測 ！  研發、生產、銷售晶體管圖示儀，半導體功率器件測試篩選系統。Si , SiC , GaN 材料的 IPM , IGBT , MOS , DIODE , BJT , SCR的電參數及可靠性和老化測試。靜態單脈沖（包括導通、關斷、擊穿、漏電、增益等直流參數）動態雙脈沖（包括 Trr , Qg , Rg , FRD , UIS , SC , Cxss , RBSOA 等）環境老化測試（包括 HTRB , HTGB , H3TRB , Surge 等）熱特性測試（包括 PC , TC , Rth , Zth , Kcurve 等）各類全系列測試設備