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USB 3.0電路保護方案

作者:Matt Williams 泰科電子瑞侃電路保護產品部全球應用工程經理 時間:2010-03-02 來源:電子產品世界 收藏

  電子的內部檢測表明,熱插拔引起的瞬態,盡管時間很短暫,但電壓幅度卻可能超過16~24V。內部檢測還發現第三方充電器的開路電壓超過了5V ±5%的USB規范要求。在所有USB受電設備,尤其是VBUS端口上安裝器件(如PolyZen聚合體保護zener二極管器件)可以有效防止因電壓瞬態而受損。對于USB 3.0設備來說,PolyZen器件可酌情置于USB輸入端口、Power -B插頭和母插孔電源端口上。

本文引用地址:http://cqxgywz.com/article/106465.htm

  

  過壓瞬態往往是ESD造成的,電源總線和數據總線上都可能出現。盡管現代集成電路可以抵御最高2000 V的電壓,但人體本身卻能輕易地聚集高達25000V的靜電。在I/O端口保護應用中,數據線上需要具有快速鉗位和恢復響應的極低電容ESD器件。

  現有USB 2.0協議支持最高480Mbps的數據傳輸速率、即插即用、熱插拔安裝和運行。比較而言,USB 3.0規范支持的數據傳輸速率高達5Gbps,并向下兼容低速USB 2.0規范。

  USB 3.0在連接上增加了四個新引腳來支持全新的SuperSpeed接口:USB3_TX (差分線對)和USB3_RX(差分線對),如圖4所示。

  USB 3.0的SuperSpeed接口需要比USB 2.0電容更低的。增加極低電容PESD器件可以減小插入損耗,滿足USB 3.0的眼圖要求。PESD器件的典型電容為0.2pF,超過6 GHz范圍內插入損耗平穩,同時可以應對各種ESD瞬態。

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