導電聚合物薄膜電阻率測量系統的設計
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1．3 電流的限制
半導體材料電阻率測量時對流過樣品的電流有比較嚴格的要求：
(1)電流不能過小，以確保內側探針間電壓可測；
(2)電流不能過大，以減小熱效應對樣品電阻率的影響；
(3)測量較大電阻率樣品時，應該減小注入電流，以減小少子注入的影響。
流通電流影響樣品電阻率值，但是通常電阻率不受電流影響的范圍是很廣的，根據這個范圍的界限可以得出安全操作電流。
本方法中流經測試樣品的電流：
2 系統設計
系統采用LPC2148 ARM7芯片為數學運算和控制的核心單元，系統結構如圖3所示。本文引用地址：http://cqxgywz.com/article/194975.htm
2．1 控制處理單元
控制處理單元包括LCD液晶顯示電路、鍵盤輸入電路、串口通信電路、反饋控制電路1和2和微控制器。預置限流電阻Rc用于限定小電阻率材料測量時通過的電流，流過的電流可由式(9)計算得出。全量程范圍內可保證測量電流小于2 mA。各參數與檔位如表1所示。
2．2 信號調理單元
包括可控恒壓產生電路、差分放大電路、比率測量電路和模數(A／D)轉換電路。恒壓源采用ADR01，產生10 V的基準電壓輸出，進一步得到0．1 V和0．01 V的基準信號；圖2中內側兩探針間電壓的測量采用AD620差分放大電路及高精度運放AD546，通過反饋控制電路2調節增益電阻RG來改變輸出信號的幅度；模／數轉換電路采用16位的∑-△型AD7705，使用3.401V參考電壓時測量分辨率到達52μV／LSB。如圖4所示。
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