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以CPL天線為W-Fi裝置實現無線耦合測試

作者：時間：2016-12-06 來源：網絡

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刷電路板材可以有很高的輻射效率。

本文引用地址：http://cqxgywz.com/article/201612/326810.htm

　　因此，當產品中采用了DockOn的CPL天線設計，就可以在生產過程中采用OTA/耦合測試技術，以優化的測試設置協助制造商提升產量。

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關鍵詞： CPL天線W-Fi裝

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