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飛機(jī)形位誤差檢測技術(shù)研究

作者: 時間:2017-02-27 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏


求下框格位置度誤差, 位置度誤差下框格有基準(zhǔn)的測量, 如圖6所示。

步驟7:在1#坐標(biāo)系下,以1孔和2孔構(gòu)造線建立X'軸方向,定義1孔X=10、Y=20,此坐標(biāo)系為2#坐標(biāo)系。

步驟8:在2#坐標(biāo)系下,通過觀察每個極限點(diǎn)的坐標(biāo)值就可以分析出被測孔之間的偏離狀態(tài),用每個極限點(diǎn)的實(shí)際位置與理論位置求距離,該距離的2 倍就是每個被測孔之間的位置度誤差。

當(dāng)下框格位置度超差時,在上框格位置度合格的前提下,可以任意平移或旋轉(zhuǎn)2#坐標(biāo)系,直至下框格位置度達(dá)到最佳狀態(tài)為止。

當(dāng)上框格位置度和下框格位置度檢測都合格的情況下,該復(fù)合位置度合格,否則該復(fù)合位置度不合格。

其他位置度檢測技術(shù)研究

常用的其他位置度有同軸度、對稱度、平行度、垂直度、傾斜度等,利用三坐標(biāo)測量機(jī)進(jìn)行數(shù)字化檢測的原理是將這些抽象的形位誤差測量,轉(zhuǎn)換為相應(yīng)的點(diǎn)位控制評定,并根據(jù)其相應(yīng)的位置度算法,計(jì)算得出相應(yīng)的位置度評定結(jié)果。


如對對稱度的測量:

對稱度是表示零件上兩中心對稱要素保持在同平面內(nèi)的狀況。對稱度公差是被測要素相對基準(zhǔn)要素所允許的最大變動量。零件上對稱結(jié)構(gòu)要素很多,如鍵槽的兩側(cè)面,V型槽,連桿滑塊的兩側(cè)面及回轉(zhuǎn)體表面等[5]。

下面舉例說明,在三坐標(biāo)測量機(jī)上對稱度的檢測。

(1)公差帶:被測平面的對稱度公差帶為相對于基準(zhǔn)中心平面對稱配置,且距離為公差值0.1mm的兩平行平面之間的區(qū)域,如圖7所示。

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(2)檢測:根據(jù)面的特征點(diǎn)的布局要求,在產(chǎn)品模型上提取被測面上的理論點(diǎn)位數(shù)據(jù)。檢測過程如下:

步驟1:將被測零件恰當(dāng)?shù)囟ㄎ辉谌鴺?biāo)測量機(jī)的工作臺上(CMM工作面),如圖8所示。

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步驟2:在基準(zhǔn)A(基準(zhǔn)中心平面)上建立Z軸方向,且定義A基準(zhǔn)Z=0。

步驟3:對面的輪廓進(jìn)行測量,得到實(shí)際點(diǎn)位。

步驟4:根據(jù)公差帶的類型,這些點(diǎn)的Z向公差可以分配為:+0.05/-0.05。

步驟5:通過觀察每個實(shí)際點(diǎn)位的Z向坐標(biāo)值可以判斷對稱度是否合格,還可以分析出被測平面相對基準(zhǔn)平面的偏離狀態(tài)。

針對復(fù)合面輪廓度的方法和復(fù)合位置度基本相同,主要是將面輪廓度轉(zhuǎn)換為矢量點(diǎn)的檢測,針對基準(zhǔn)的標(biāo)注在測量坐標(biāo)系建立中的應(yīng)用與復(fù)合位置度相同。

結(jié)論

數(shù)字化的概念在加工制造業(yè)中被廣泛的推廣應(yīng)用,簡單地利用測量機(jī)軟件功能進(jìn)行產(chǎn)品檢測,雖然可以定量得出測量結(jié)果,但其測量結(jié)果不便于以后的工藝分析。研究形位公差數(shù)字化檢測, 提出了利用離散點(diǎn)檢測評定形位誤差的方法,直觀地反映出實(shí)物整個形體的質(zhì)量及偏離方向, 不僅便于不合格品的返修, 而且可以促進(jìn)工藝方法的改進(jìn), 具有潛在的經(jīng)濟(jì)效益。

復(fù)雜的形位誤差在國際設(shè)計(jì)理念中已廣泛應(yīng)用,我國最新的設(shè)計(jì)中也在應(yīng)用一些復(fù)雜的形位誤差,但針對有些復(fù)雜的形位誤差的概念,還沒有很清晰的解釋,例如,復(fù)合面輪廓度,規(guī)定范圍內(nèi)評定的線輪廓度等,需要我們進(jìn)行研究學(xué)習(xí),深入了解其概念及評定方法,從而研究出其相應(yīng)的檢測方法。

參 考 文 獻(xiàn)
[1] 張學(xué)昌.基于點(diǎn)云數(shù)據(jù)的復(fù)雜型面數(shù)字化檢測關(guān)鍵技術(shù)研究及其系統(tǒng)開發(fā)[D].上海:上海交通大學(xué),2006.
[2] Pfeiffer A.Dasta analysis in the grid.era,nuclear symposium conference record,2003IEEE,2003:22-25.
[3] 侯宇,張競,崔晨陽.復(fù)雜線輪廓度誤差坐標(biāo)測量的數(shù)據(jù)處理方法.計(jì)量學(xué)報(bào),2002(1):1-3.
[4] 張進(jìn),王仲,李超,等.離散點(diǎn)的線輪廓度評價(jià)算法.光學(xué)精密工程,2008(11):2281-2285.
[5] 徐先懂,宋述穩(wěn).形位誤差的數(shù)據(jù)處理.中國測試技術(shù),2004(4):1-3.(end)

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