2.將被測目標從支架上移開，并測量支架的反射頻率掃描S21_（str）測量，如果目標不便移開，可以將天線同時（包括發射天線和接收天線）轉到一個空曠位置，并保證在相同的距離上沒有其他物體存在。如圖10 中表示的校準區域。

3.將頻率掃描S21_（str）結果轉換為時域，同時將時域門設置在目標位置，并調節門寬將目標的所有反射均包含在內，將時域濾波后的結果保存至儀表內存。

4.如果目標無法從支架上移開，應保證支架本身的反射S21_（str）較反射目標低20dB以上（S21_（str）＋20dB<< S21_（tgt））。為達到此目的，可以采用在支架上包覆微波吸收材料的方法。

5.將標準物體置于目標區域，測量標準物體頻率掃描的S21_（std），并將結果轉換為時域，同時將時域門設置在目標位置，并調節門寬將目標的所有反射均包含在內，將時域濾波后的結果保存至儀表內存。注意，標準物體的雷達散射截面應接近目標雷達散射截面。

6.將被測目標置于目標區域并移開標準物體，測量標準物體頻率掃描S21_（tgt），并將結果轉換為時域，同時將時域門設置在目標位置，并調節門寬將目標的所有反射均包含在內，將時域濾波后的結果保存至儀表內存。

7.雷達散射截面運算方程：

這樣，， ，
由于 ，所以
因此， ，

如果支架的反射較大，并且標準物體也是放在支架上進行校準測量的。那么，

由于 已知，我們即可以得到 ，例如，

圖11 中的目標與圖9中直徑為6英寸的校準金屬球體相比較（參考光標讀數），知道 ， ，，根據
，得到

圖11，測量一個直徑為12英寸的金屬球體的S21時域曲線

信號極化
反射信號的極化方向可能與雷達發射信號的極化方向不同，目標的形狀不同反射的極化也會不同，見圖2 中的Et 和Er描述。
為了修正極化誤差，我們可以分別測量目標在垂直和水平極化情況下的雷達散射截面，這樣我們就可以建立散射截面極化矩陣。所要做的是，在一種發射極化（垂直或水平）情況下，測量兩種極化（垂直和水平）的S參數。

極化矩陣


Et 與Er的關系為

這里Sxx為上面提到的4 種不同狀態測得的S參數
發射垂直極化，接收垂直極化
發射垂直極化，接收水平極化
發射水平極化，接收垂直極化
發射垂直極化，接收垂直極化

根據上面的描述，對于4 種狀態下得到的S參數，我們也可以推出類似的雷達散射截面矩陣

如果發射天線是垂直極化的，那么 ，并以此類推。