高亮發光二極管（High brightness light emitting diodes，HBLED）綜合具備了高輸出、高效率和長壽命等優勢。制造商們正在開發可以實現光通量更高、壽命更長、色彩更豐富而且單位功率發光度更高的器件。要確保其性能和可靠性，就必須在生產的每個階段實施精確的、成本經濟的測試。

圖1示出了典型的二極管的電I－V特性曲線。雖然一個完整的測試程序可以包括數百個點，但對一個有限的樣本的探查一般就足以提供優值。許多HBLED測試需要以一個已知的電流信號源驅動器件并相應測量其電壓，或者反過來。同時具備了可同步動作的信號源和測量功能可以加速系統的設置并提升吞吐率。測試可以在管芯層次（圓片和封裝）或者模塊/子組件水平上進行。在模塊/子組件水平上，HBLED可以采取串聯和/或并聯方式；于是一般需要使用更高的電流，有時達50A或者更高，具體則取決于實際應用。有些管芯級的測試所用的電流在5～10A的范圍內，具體取決于管芯的尺寸。

圖1. 典型的HBLED DC I－V曲線和測試點