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高性能接觸電阻測試系統

作者: 時間:2012-07-11 來源:網絡 收藏

  是對通過閉合觸點對的電流的阻抗。這種類型的測量是針對例如連接器、和開關這樣的器件進行的。該電阻通常非常小,范圍從微歐到幾個毫歐,因此需要采用4線測量法。可編程掃描儀通過將一組測試儀器切換至多個觸點,大大縮短了測量時間。例如測試多插針連接器或自動測試環境艙中的多個觸點時。

測量20個觸點的接觸電阻

  圖 1,測量20個觸點的

  如圖1所示,為防止測試線、通路和開關的被疊加到測量值,歐姆表的全部4個端子都通過開關進行切換。注意,電源 HI和LO端子被連接到一組雙刀開關,而測量HI和LO端子則被連接到另一組雙刀開關。若要測量觸點1的電阻,需要閉合通道1和21,然后利用歐姆表測量電阻;若要測量觸點2,需要開路通道1和21,閉合通道2和22,然后再次測量電阻。

  Keithley 2750型多用表/開關系統能夠測量低于1 mΩ的電阻,并具有偏移補償和干電路(Dry Circuit)測試能力,所以可用來測量接觸電阻。

  小功率應用中的觸點通常是在干電路條件下進行測試的,在這種情況下,電流和電壓均被限制到不會引起點接觸結的物理和電氣條件發生變化。通常而言,干電路的開路電壓非常低,一般為20 mV或更低,短路電流被限制為100 mA或更低。

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