根據測試系統功能的要求, 在程序中定義了2個數據結構,一個是用來存放程序中需要用到的各種測試設置值的數據結構SetUp_struct；另一個是用于存放測試結果的數據結構Data_struct。這兩個數據結構是連接各個功能函數的橋梁，通過判斷SetUp_struct中各個變量的值可以使程序做出相應的操作，并改變相應Data_struct值，從而實現在不同的測試環境下對不同指標的測試。

　　3.3 2M測試系統測試指標的測量與計算

　　2M測試系統設計所能達到的測試指標如下：

　　(1)、在線和中斷業務測試，可選接口阻抗：75Ω、120Ω、高阻（≥2KΩ）。

　　(2)、統計分析功能： G.826測試分析誤塊秒、嚴重誤塊秒、背景誤塊、不可用秒、誤塊秒率、嚴重誤塊秒率、背景誤塊率；G.821測試分析誤碼秒、嚴重誤碼秒、 不可用秒；M.2100測試分析誤碼秒、嚴重誤碼秒、不可用秒。

　　(3)、差錯（誤碼、誤塊）監測比特誤碼、編碼誤碼、幀字差錯、CRC差錯。

　　(4)、告警監測。

　　(5)、同時顯示幀開銷及30個話路數字型線路信號（a.b.c.d）的狀態。

　　(6)、話音監聽，各話音時隙可選。

　　(7)、測試結果掉電可記憶，可上傳微機。

　　上述各項指標的測量由檢測模塊和語音監聽模塊實現, 指標的(3)、(4)項可通過對ds21354和ds21372的相關寄存器的設置和對線路狀態寄存器的讀取并對數據簡單處理可實現。指標的(5)、(6)項可通過對時隙交換電路相關寄存器的設置和讀取對數據簡單處理實現。第(2)項的指標參數是統計指標,需要在讀取DS21372寄存器的原始測試數據之后，經過計算得到。統計指標以秒為單位,程序設置了周期為1s的中斷定時讀取ds21372的寄存器值，調用計算函數計算統計指標。圖3是在G.821分析模式下的統計指標算法流程圖，其余分析模式下與此相似。

　　圖3 G.821分析模式下測試指標計算流程圖

　　4 結束語

　　2M 測試系統在我國電信、網絡相關領域具有廣泛的應用價值。本文介紹的基于ARM的2M測試系統具有體積小、功耗低、功能豐富等優點，特別是能夠語音監聽，并且各時隙可選，能夠滿足對2M口性能的測試和分析。ARM處理器以其高性價比，在嵌入式系統領域得到了廣泛應用。

　　本文作者創新點:在2M測試系統中采用時隙交換芯片與語音檢測芯片組合成語音在線監聽模塊，能實現任一時隙的語音監聽，以及任一時隙的線路信號狀態檢測，能更好的幫助工程技術人員對2M線路的測試和維護。

　　參考文獻：

　　[1]田澤，ARM9潛入式開發實驗與實踐，北京航空航天大學出版社，2006

　　[2]DS21354 datasheet, DALLAS Ltd,2002

　　[3]DS21372 datasheet, DALLAS Ltd,2003

　　[4]MT91L60 datasheet， ZARLINK Ltd, 2002

　　[5]姜京梅，ARM7啟動代碼設計方法與流程，微計算機信息，2004，第5期