放大器 文章 最新資訊
雙三極管ECC822電子管組成的OTL耳機放大器電路
- 如圖所示電路,用雙三極管ECC82(相當于E802C、E82CC、與北美12AU7、國產(chǎn)6N10型)作為放大器。此類管子l有指標優(yōu)良和使用壽命長的特點。前置放大器要產(chǎn)生足夠的信號幅度去驅(qū)動耳機。管腳1、2、3、的三極管部分放大信號。輸入信號通過50kΩ音量控制對數(shù)式電位器P1(P1不在圖I中表示)到達電路板,再經(jīng)過C1、R1直接輸給前置放大級,而R1、C1l提供必需負柵偏壓。增益實質(zhì)上由R8決定。而最大輸入電壓由R2決定。R9是這樣確定.即把靜態(tài)陽極電流選在特性曲線最大可能的線性部分。在陽
- 關鍵字: 雙三極管 OTL 放大器
頻譜分析儀的設計方案及實際應用案例匯總
- 頻譜分析儀是研究電信號頻譜結(jié)構(gòu)的儀器,用于信號失真度、調(diào)制度、譜純度、頻率穩(wěn)定度和交調(diào)失真等信號參數(shù)的測量,可用以測量放大器和濾波器等電路系統(tǒng)的某些參數(shù),是一種多用途的電子測量儀器。現(xiàn)代頻譜分析儀能以模擬方式或數(shù)字方式顯示分析結(jié)果,能分析1赫以下的甚低頻到亞毫米波段的全部無線電頻段的電信號。儀器內(nèi)部若采用數(shù)字電路和微處理器,具有存儲和運算功能;配置標準接口,就容易構(gòu)成自動測試系統(tǒng)。 基于MSP430的FM音頻頻譜分析儀的設計方案 本文中主要提出了以MSP43處理器為核心的音頻頻譜分析儀的設
- 關鍵字: 微處理器 放大器 濾波器
能效最高的12、14和16位ADC驅(qū)動器面市
- Analog Devices, Inc. ,全球領先的高性能信號處理解決方案供應商,近日面向要求超高精度和能效的高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)推出低功耗軌到軌放大器ADA4805-1和ADA4805-2。 對于尋求實現(xiàn)高分辨率ADC數(shù)據(jù)手冊規(guī)定的全部潛力的系統(tǒng)設計師來說,ADA4805-1(單通道)和ADA4805-2(雙通道)放大器是靜態(tài)電流低至495µA的唯一解決方案。 放大器的動態(tài)功耗調(diào)節(jié)(DPS)特性允許用戶在ADC采樣之間關閉放大器,實現(xiàn)對功耗的動態(tài)管理。 與類似解決方案相比,該技術(shù)可使其功耗
- 關鍵字: Analog Devices ADC 放大器
德州儀器推出首款面向 eCall、儀表盤以及車載資訊系統(tǒng)的全面集成型單聲道 D 類音頻放大器
- 日前,德州儀器 (TI) 宣布推出業(yè)界首款汽車 D 類音頻放大器,可在單個器件上集成負載突降保護與診斷功能,適用于緊急呼叫 (eCall) 和儀表盤系統(tǒng)。設計人員使用該單聲道模擬差動輸入 TAS5421-Q1,不僅可取消多個分立式組件,簡化汽車級診斷設計,而且還可延長電池備用電源的使用時間。如欲了解更多詳情或訂購樣片,敬請訪問:www.ti.com.cn/tas5421q1-pr-cn。 目前,用戶對車載 eCall 系統(tǒng)的需求正在不斷提升。在發(fā)生碰撞事故時,eCall 系統(tǒng)可自動與最近的急救中
- 關鍵字: 德州儀器 放大器 TAS5421-Q1
電暈檢測系統(tǒng)中低噪放大器的設計
- 摘要:遠距離檢測電暈放電現(xiàn)象,對于減少放電損耗和避免電氣故障,具有重要的指導意義。在由螺旋天線、無源濾波器、低噪放大器等組成的遠距離電暈檢測系統(tǒng)中,信號經(jīng)無源濾波后受到較大程度的衰減,為提高信噪比需進行放大處理。根據(jù)電暈檢測系統(tǒng)指標,采用晶體管構(gòu)成深度負反饋放大電路,將其三級級聯(lián),設計出能與濾波器接口和后端的同軸電纜的接口較好的匹配的低噪放大器。利用ADS軟件進行仿真并進行實際現(xiàn)場測試,結(jié)果表明放大器符合設計標準,具有良好的輸人/輸出匹配性能,帶寬和增益的取舍需要根據(jù)實際要求來平衡,為電暈檢測系統(tǒng)的成
- 關鍵字: 放大器 濾波器 電暈檢測 仿真 電磁輻射 201409
IC 的長期穩(wěn)定性:唯一不變的是變化本身
- 我們在 E2E™ 社區(qū)高精度放大器論壇上收到的一些最常見的問題都與 IC 不同參數(shù)的長期穩(wěn)定性有關。自然界沒有什么事物是靜止的,產(chǎn)品說明書參數(shù)也不例外。 隨著時間的推移,半導體材料的摻雜度以及封裝對內(nèi)部裸片產(chǎn)生的物理應力都會發(fā)生變化,這會導致產(chǎn)品的參數(shù)值發(fā)生偏移。這些偏移可在新產(chǎn)品質(zhì)量認證過程中,通過測量生命周期測試過程中(在高溫爐中執(zhí)行的加速老化過程)的參數(shù)偏移進行量化。 125C 下 1000hrs 或 150C 下 300hrs 的典型生命周期測試持續(xù)時間可在室溫下確保至
- 關鍵字: IC 放大器 輸出電壓
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