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兩階段檢測 文章 最新資訊

多階段檢測如何防止 AI 處理器中的靜默數據損壞

  • 隨著晶體管幾何形狀的縮小和系統復雜性的擴展,一個令人不安的事實變得越來越難以忽視:靜默數據損壞(SDC)比大多數系統架構師想象的更常見、更嚴重。這些錯誤不會留下任何痕跡,因此很難識別。然而,一個模型可能會扭曲獨立節(jié)點之間的模型權重,從而悄悄地破壞可能持續(xù)數周、涉及超過 25,000 個 GPU、成本超過 1 億美元的訓練運行。即便在驗證和測試方面投入巨大,未被檢測到的故障仍在大規(guī)模 AI 部署中挑戰(zhàn)著芯片的可靠性。如果單個芯片在同步期間引入靜默錯誤,則損壞可能會在整個集群中傳播。IEEE 研究表明,軟錯誤
  • 關鍵字: 靜默數據損壞  兩階段檢測  AI處理器  
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兩階段檢測介紹

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