光電測(cè)試基本知 文章 最新資訊
光電測(cè)試原理和基本知識(shí)（一）
- 有源光電器件的特性描述絕不僅僅只需要一個(gè)電流源有源的光電器件是一個(gè)基本的半導(dǎo)體結(jié)，為了更全面的測(cè)試，不僅要求對(duì)其做正向的I-V
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光電測(cè)試原理和基本知識(shí)（二）
- 微弱電流的測(cè)試需要驅(qū)動(dòng)保護(hù)(DrivenGuard)Keithley的測(cè)量設(shè)備中獨(dú)一無二的是，保護(hù)回路的引入將測(cè)試線與圍繞測(cè)試線的導(dǎo)體之間的電勢(shì)差
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光電測(cè)試基本知介紹
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