- 1.概述：整合性內存自我測試電路產生環境-Brains Brains是從整體的芯片設計切入，利用硬件架構共享的觀念，可以大幅減少測試電路的門數?(Gate?Count)，并且讓使用者能輕易產生優化的BIST電路。Brains可以自動的判讀內存并將其分群?(Grouping)，從產品設計前端大幅提升測試良率、降低測試成本，提高產業競爭力。Brains的五級到七級的彈性化管線式架構，可以滿足快速內存測試的需求，目前最高測試的速度已經可以達到1.2GHz，整體BIST電路的門
- 關鍵字：
內存測試 Brains
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