數據驅動的半導體決策轉變

• 半導體生命周期中的數據爆炸半導體行業一直都是數據密集型的。然而，現在的話題正在從數量轉向質量。這不再是關于我們生成了多少數據，而是關于這些數據的連接、情境化和解釋程度。半導體數據與通用的企業或消費者數據有著根本的不同。漏電流讀數、故障箱代碼或晶圓缺陷沒有意義，除非在產生它的硅工藝、測試環境或設計約束的背景下理解它。在產品開發的早期階段，設計工程師通過RTL回歸、邏輯覆蓋率報告和時序收斂檢查來生成仿真數據。隨著設計進入制造階段，硅數據開始積累，包括在線計量讀數、臨界尺寸測量、工具狀態日志和晶圓級缺陷圖。每個
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