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存儲測試 文章 最新資訊

Solidigm成立AI中央實驗室,配備高性能、大密度存儲測試集群

  • 企業數據存儲領域領導者 Solidigm正式揭幕其 AI 中央實驗室。該實驗室配備了專為多種AI工作負載量身打造的高性能、高密度的存儲測試集群。這座先進的 AI 中央實驗室坐落于美國蘭喬科爾多瓦的 FarmGPU 設施內,緊鄰 Solidigm 總部。在這里,Solidigm 能夠利用NVIDIA B200 和 H200 圖形處理器,運行并研究真實的 AI 工作負載。這不僅為我們理解前沿存儲技術如何最大限度地提升集群效率,提供了獨到的見解,更讓 Solidigm 在 AI 生態系統中的重要合作伙伴,有機會
  • 關鍵字: Solidigm  存儲測試  

基于FPGA軟核的參數可變的壓力測試系統設計

  • 在爆炸場壓力測試中,沖擊波超壓峰值隨著彈藥的當量和到爆心距離的變化十分顯著。傳統測試系統的測試參數難以更改,靈活性差,往往需要重新設計電路以滿足不同測試要求。為了提高測試系統的靈活性及電路復用性,設計了基于可配置FPGA軟核的測試系統。通過調用并修改可移植軟核,以實現系統的快速設計,通過靈活設置測試參數完成不同測試任務。對系統準確性進行了驗證,應用到靜爆試驗中,有效獲得了壓力數據。
  • 關鍵字: FPGA  軟核  沖擊波  存儲測試  

存儲測試系統的USB接口設計

  • 摘要:針對存儲測試系統的高速數據傳輸需求,設計了以單片機和FT245R為核心器件的USB接口電路,替代了傳統的并行/串行接口。設計的USB接口支持USB 2.0協議,具有體積小、通用性好、操作簡單、使用方便等特點,數據
  • 關鍵字: USB  存儲測試  系統  接口設計    

基于FPGA的存儲測試系統

  • 針對某些特殊的測試試驗要求測試系統高性能、微體積、低功耗,在存儲測試理論基礎上,進行了動態存儲測試系...
  • 關鍵字: FPGA  存儲測試  采樣頻率  

基于FPGA的存儲測試系統的設計

  • 摘要:針對某些特殊的測試試驗要求測試系統高性能、微體積、低功耗,在存儲測試理論基礎上,進行了動態存儲測試系統的FPGA設計。介紹了該系統的組成,對控制模塊進行了詳細設計。針對測試環境的多樣性設計了采樣策略
  • 關鍵字: FPGA  存儲測試  系統    

基于CPLD的多次重觸發存儲測試系統設計

  • 摘要:提出一種基于CPLD的多次重觸發存儲測試系統設計方案,詳細介紹系統硬件設計以及CPLD內部控制原理,并對CPLD控制電路仿真。該系統體積小、功耗低,能夠實時記錄多次重觸發信號,每次信號記錄均有負延遲,讀取出
  • 關鍵字: CPLD  觸發  存儲測試  系統設計    
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存儲測試介紹

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