- 迎?九?（《電子產品世界》編輯，北京?100036） 摘?要：介紹了集成電路測試機（ATE）面臨的挑戰與解決方案。 關鍵詞：集成電路；測試；微調；trim 集成電路自動測試設備（ATE，測試機）是檢測芯片功能和性能的專用設備，據SEMI預測，2019年中國測試機占據后道檢測設備62.8%的份額 [1] 。ATE測試的趨勢是什么？電子產品世界記者訪問了泰瑞達業務戰略總監翟朝艷（Natalian Der）女士。 1 芯片測試的新挑戰 當今的半導體公司可謂重任在肩：需要在芯片上整合多種功能，有高性
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- TI 的阻抗跟蹤 TM 電池電量計技術是一種功能強大的自適應算法，其會記住電池特性隨時間的變化情況。將這種算法與電池組具體的化學屬性結合可以非常準確地知道電池的充電狀態 (SOC)，從而延長電池組使用壽命。然而，更
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