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科利登發(fā)布D-6432DFT測試解決方案
- 科利登系統(tǒng)有限公司推出業(yè)界性價比最高、性能最為出眾的解決方案Sapphire D-6432DFT，用于測試新興的高速計算和消費應用中所使用的微處理器、游戲及圖形器件。該設備的推出再次強化了科利登市場領先的Sapphire測試平臺。 Sapphire D-6432DFT設備是首款用于高速串行總線的集成測試解決方案，在一次插入中結(jié)合了高速環(huán)路測試、抖動測量和注入信號，以及掃描/功能性測試和DC參數(shù)測量。D-6432DFT的密度比同類產(chǎn)品高出4倍，可為制造商提供突破性的可測性設計（DFT）方法，助其顯
- 關鍵字： 測試 測量 科利登 D-6432DFT 測試測量
基于計算機的機床測試系統(tǒng)
- 在工業(yè)生產(chǎn)測試過程中，經(jīng)常要對溫度、流量、壓力等模擬量進行采集，對繼電器、接觸器等開關量進行控制，此外還有步進電機和伺服電機進行精確的位移控制。開發(fā)一種基于計算機的機床測試系統(tǒng)，把各種控制量集成在一起構(gòu)成閉環(huán)控制系統(tǒng)很有必要。本文以一臺計算機為主控制器，采用Windows風格接口軟件，計算和測試速度快，信息處理能力強，系統(tǒng)集成度高，工作界面友好，操作方便，實現(xiàn)了多參數(shù)測試過程自動化，提高了測試效率和準確性。 系統(tǒng)主要功能及特點 系統(tǒng)以對機床性能影響大的參數(shù)集成測試為主要目的，具有以下功能
- 關鍵字： 測試 測量 機床測試 嵌入式系統(tǒng) 單片機 測試測量
基于AD8302芯片的新的幅相測量系統(tǒng)
- 引 言 傳統(tǒng)的幅度、相位差、阻抗測量需要采用多個中小規(guī)模集成電路，不僅電路復雜，測量精度低，而且適用的頻率范圍窄，只能測量低頻或中頻信號。本文介紹利用美國ADI公司最近推出的AD8302芯片測量RF／IF幅度和相位差并計算阻抗。此芯片是測量幅度、相位差的首款單片集成電路，可廣泛用于GSM(全球移動通信系統(tǒng))，電力系統(tǒng)的阻波器、結(jié)合濾波器等領域。 1 AD8302性能特點 AD8302內(nèi)含兩個精密匹配寬帶對數(shù)檢波器、一個相位檢波器、輸出放大器組、一個偏置單元和一個輸出參考電壓緩沖器等，能同時
- 關鍵字： AD8302 幅相測量 測試 測量 測試測量
KLA-Tencor 發(fā)布最新 HRP-350系統(tǒng)
- KLA-Tencor 發(fā)布高分辨率表面輪廓測量系統(tǒng) HRP-350，使測量能力擴展至 45 納米半導體器件。這個新設備配備半徑低至 20 納米的鉆石探針和低噪音平臺，從而提高了測量靈敏度，并使芯片生產(chǎn)商能夠監(jiān)控極其細微的橫向和縱向尺寸。除這些突破之外，該系統(tǒng)還擁有更高的掃描速度，因而能在多種關鍵性晶體管和互連應用中提升系統(tǒng)生產(chǎn)能力。 “隨著半導體器件的更新?lián)Q代，在重要的蝕刻和化學機械拋光工藝中，形貌控制要求也越發(fā)嚴格。我們的客戶需要一
- 關鍵字： 消費電子 測試 測量 HRP-350 測試測量 消費電子
意法半導體便攜設備用雙軸模擬加速計尺寸緊湊、節(jié)能降耗
- 意法半導體宣布該公司的超小型“低g”線性加速計產(chǎn)品家族增加一個新的解決方案，新產(chǎn)品LIS244AL動作傳感器在電路板占據(jù)一個面積很小的呈正方形位置，功耗極低，特別適合電池供電的便攜應用，如手機、便攜多媒體播放器或遙控器。 新的加速計在一個單封裝內(nèi)集成了一個可靠的雙軸MEMS加速計傳感器和一個CMOS接口芯片，該接口芯片提供兩個同步實時模擬輸出：一個是側(cè)向（橫向）運動輸出信號，另一個是前后（縱向）運動輸出信號。 新產(chǎn)品LIS244AL能夠在極低的噪聲下提供加速數(shù)值，需要
- 關鍵字： 消費電子 意法半導體 雙軸模擬加速計 測試 測量 測試測量 消費電子
基于磁盤陣列的全數(shù)字遙測記錄系統(tǒng)的設計
- 引 言 我國遙測記錄設備經(jīng)歷了倍密度磁帶機和旋轉(zhuǎn)頭磁帶機兩代產(chǎn)品，目前仍在使用。從記錄原理上說他們皆屬于模擬記錄設備，在長期使用當中，已暴露出諸多缺陷： (1)磁帶耗材依賴進口，價格昂貴且記錄容量小、重復使用率低、數(shù)據(jù)保存時間短。 (2)磁頭和機械運帶機構(gòu)屬精密加工器件，調(diào)校過程相當復雜，長期使用磨損嚴重，記錄性能顯著惡化，給設備維護帶來極大不便。 隨著計算機硬盤制造技術的飛速發(fā)展和數(shù)字存儲技術的問世及不斷應用，采用大容量高速硬盤記錄模擬遙測信號的數(shù)字化
- 關鍵字： 消費電子 測試 測量 磁盤陣列 數(shù)字遙測 測試測量 消費電子
ST便攜設備用雙軸模擬加速計尺寸緊湊節(jié)能降耗
- 意法半導體宣布該公司的超小型“低g”線性加速計產(chǎn)品家族增加一個新的解決方案，新產(chǎn)品LIS244AL動作傳感器在電路板占據(jù)一個面積很小的呈正方形位置，功耗極低，特別適合電池供電的便攜應用，如手機、便攜多媒體播放器或遙控器。 新的加速計在一個單封裝內(nèi)集成了一個可靠的雙軸MEMS加速計傳感器和一個CMOS接口芯片，該接口芯片提供兩個同步實時模擬輸出：一個是側(cè)向（橫向）運動輸出信號，另一個是前后（縱向）運動輸出信號。 新產(chǎn)品LIS244AL能夠在極低的噪聲下提供加速數(shù)值，需要的功耗非常低，這在電池供電的便
- 關鍵字： 模擬技術 電源技術 ST 雙軸模擬加速計 測試 測量 測試測量
基于FPGA系統(tǒng)易測試性的研究
- 引 言 現(xiàn)代科技對系統(tǒng)的可靠性提出了更高的要求，而FPGA技術在電子系統(tǒng)中應用已經(jīng)非常廣泛，因此FPGA易測試性就變得很重要。要獲得的FPGA內(nèi)部信號十分有限、FPGA封裝和印刷電路板(PCB)電氣噪聲，這一切使得設計調(diào)試和檢驗變成設計中最困難的一個流程。另一方面，當前幾乎所有的像CPU、DSP、ASIC等高速芯片的總線，除了提供高速并行總線接口外，正迅速向高速串行接口的方向發(fā)展，F(xiàn)PGA也不例外。每一條物理鏈路的速度從600 Mbps到10 Gbps，高速I／O的測試和驗證更成為傳統(tǒng)專注于FPG
- 關鍵字： 嵌入式系統(tǒng) 單片機 測試 測量 FPGA 測試測量
高端封裝產(chǎn)能壟斷 明確目標把握細分市場
- 中國半導體行業(yè)協(xié)會封裝分會統(tǒng)計數(shù)據(jù)顯示，2006年我國集成電路封裝測試業(yè)共實現(xiàn)銷售額496億元，同比增長44%，在產(chǎn)業(yè)鏈中的比重達到50.8%，是近幾年增長最快的一年，首次出現(xiàn)銷售收入過百億元的集成電路制造企業(yè)。中國半導體行業(yè)協(xié)會副理事長、中國半導體行業(yè)協(xié)會封裝分會理事長畢克允強調(diào)，近年來，我國封裝測試業(yè)自主創(chuàng)新工作取得了新的進展，一批骨干企業(yè)自主研發(fā)了FBP、MCM、CBGA等新型封裝技術。但是，不可否認，我國封裝測試產(chǎn)業(yè)整體水平與國際水平相比仍有很大差距，隨著市場
- 關鍵字： 消費電子 測試 測量 封裝 市場 封裝 消費電子
KLA-Tencor 發(fā)布高分辨率表面輪廓測量系統(tǒng) HRP-350
- KLA-Tencor日前發(fā)布業(yè)界最先進的高分辨率表面輪廓測量系統(tǒng) HRP-350，使測量能力擴展至 45 納米半導體器件。這個新設備配備半徑低至 20 納米的鉆石探針和低噪音平臺，從而提高了測量靈敏度，并使芯片生產(chǎn)商能夠監(jiān)控極其細微的橫向和縱向尺寸。除這些突破之外，該系統(tǒng)還擁有更高的掃描速度，因而能在多種關鍵性晶體管和互連應用中提升系統(tǒng)生產(chǎn)能力。 “隨著半導體器件的更新?lián)Q代，在重要的蝕刻和化學機械拋光工藝中，形貌控制要求也越發(fā)嚴格。我們的客戶需要一種單一系統(tǒng)解決方案，既可支持影響良率的納米級應
- 關鍵字： 測試 測量 KLA-Tencor 表面輪廓測量系統(tǒng) HRP-350 測試測量
無線數(shù)傳模塊在遠程環(huán)境監(jiān)測系統(tǒng)中的應用
- 現(xiàn)代世界是一個信息世界，信息的獲取傳輸也逐步從有線過渡到無線。隨著無線通信事業(yè)的發(fā)展，無線傳輸這一技術越來越多的為人們所熟悉，相應的產(chǎn)品也滲透到社會生活的各個領域，如無線抄表、數(shù)字圖像傳輸、小區(qū)傳呼、工業(yè)數(shù)據(jù)采集、非接觸RF 智能卡、安全防火系統(tǒng)、區(qū)域報警系統(tǒng)的數(shù)字信號傳輸?shù)取６@一技術的最大作用便是優(yōu)化數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)的效率。本文將此技術應用于無線通信的遠程環(huán)境監(jiān)測系統(tǒng)中，使該系統(tǒng)不僅數(shù)據(jù)傳輸效率高，而且結(jié)構(gòu)簡單，操作方便。 一、遠程環(huán)境監(jiān)控系統(tǒng)組成 1、
- 關鍵字： 測試 測量 工業(yè)控制 無線數(shù)傳模塊 環(huán)境監(jiān)測 模塊 工業(yè)控制
測試介紹
中文名稱：
測試
英文名稱：
test
定義1：
對在受控條件下運動的裝備，進行其功能和性能的檢測。
應用學科：
航空科技(一級學科);航空器維修工程(二級學科)
定義2：
用任何一種可能采取的方法進行的直接實際實驗。
應用學科：
通信科技(一級學科);運行、維護與管理(二級學科)
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