- 集成汽車電子硬件和軟件測試的需求，可以是開發更為流暢，成本更為低廉。對要求可跟蹤性和驗證的需要像一個契約要求給汽車電子供應商施加著影響。隨著頻率的提高，廠商逐漸意識到以要求為基礎的測試通常是軟件開發工
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測試
- 賽普拉斯半導體公司日前宣布微軟超高速USB測試工具 (SuperMUTT) 已經選用了 EZ-USB FX3 USB 3.0 控制器。SuperMUTT 幾乎能夠與任何支持USB 3.0 的主機驅動器配合使用，以檢測與微軟即將發布的 Windows 8 的 USB兼容性。
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賽普拉斯 測試 EZ-USB FX3
- 智能變電站(含電廠升壓站及AGC)是智能電網的重要基礎和支撐，智能變電站設備具有信息數字化、功能集成化、結構緊湊化、狀態可視化等主要技術特征，智能變電站系統應建立站內全景數據的統一信息平臺，供各子系統標準化
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智能變電站 測試
- 從軟磁材料的u~H曲線出發，研究在磁導率u的測量過程中，測試線圈匝數N對測試結果的影響。闡明N取一定數值時測出磁導率u值為最高的原因。關于測試樣環上測試磁場H徑向不均勻的影響，用積分法解決。指出環磁導率與材料
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匝數 磁導率 測試 分析
- 基于復用的SOC測試技術,1 引言90年代國際上出現的SOC概念，以系統為中心、基于IP模塊多層次、高度復用的設計思想受到普遍重視和廣泛應用。SOC的高集成度和復雜度使得SOC測試面臨挑戰，傳統的基于整個電路的測試方法不再適用。對于IP模塊和S
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技術 測試 SOC 復用 基于
- IC，即集成電路是采用半導體制作工藝，在一塊較小的單晶硅片上制作上許多晶體管及電阻器、電容器等元器件，并按照 ...
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IC 測試
- 如今，伴隨著新技術的不斷涌現和各行業新需求的不斷增加，更多差異化產品投放市場的步伐也在不斷加快，這些產品不但集成了更多功能，而且還必須縮減開發周期，以便在與同類產品的競爭中獲得優勢。與此同時，各企業也
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軟件 核心 測試 系統設計
- 在可用的測試和測量硬件和軟件范圍內進行選擇，對初次用戶和有經驗的用戶來說，都一樣難辦，這是可以理解的。技術的進步使測量和測試方法的發展呈指數方式加快，給用戶提供難以想象的強大系統功能。測試和測量設備跨
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測試 測量系統 注意事項
- 在對納米器件進行電流-電壓（I-V）脈沖特征分析時通常需要測量非常小的電壓或電流，因為其中需要分別加載很小的電流或電壓去控制功耗或者減少焦耳熱效應。這里，低電平測量技術不僅對于器件的I-V特征分析而且對于高電
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I-V 納米器件 脈沖 測試
- 目前，市場上有許多可供選擇的分析儀，有些具備非常特殊的專業用途，有些則提供了較多的通用射頻測量能力；有些被稱為頻譜分析儀，有些則被稱為信號分析儀。這些分析儀都是用來測量和顯示信號頻率與幅度之間的關系的
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發射器 測試 分析儀
- 一、示波器不可不知的問題 Q1: 在高速串行測試時，對測試所需示波器有什么樣的要求?哪幾個指標是最關鍵的 ...
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測試 測量 示波器
- 一、簡易多波形信號發生器電路設計 信號發生器在電子實驗中作為信號源，通常用得多的是正弦波、三角波、 ...
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測試 測量設計
- 1 引言移動互聯網用戶在過去的幾年中高速增長，據統計目前全球范圍內移動寬帶用戶數已經超過了有線寬帶用戶數（540M，480M），權威機構預測這個數字在未來的5年內將會達到1.7B。同時，移動互聯網的業務流量也呈現了爆
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IxLoad WAP 網關系統 測試
- 前言作為DDR2的繼任者，根據JEDEC標準, 目前DDR3的數據速率跨度從800Mbps開始直至1.6Gbps。在帶給用戶更快性能體驗的同時, DDR3卻能保持較低的功耗，相比DDR2減少約20%。雖然2008年整個DRAM市場低迷，DDR3的出貨量遠
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DDR3 測試 方法
- 現在由于需要支持10G以太網的測試，各個標準正在對儀器需要的精度進行討論，基本只有達到IV精度的儀器才能支持10G以太網的測試。 但是，現在不論是TIA,ISO還是IEEE,都還沒有對IV精度應該達到什么樣的標準最后定
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布線系統 測試
測試介紹
中文名稱：
測試
英文名稱：
test
定義1：
對在受控條件下運動的裝備，進行其功能和性能的檢測。
應用學科：
航空科技(一級學科);航空器維修工程(二級學科)
定義2：
用任何一種可能采取的方法進行的直接實際實驗。
應用學科：
通信科技(一級學科);運行、維護與管理(二級學科)
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