- 超快速IV測量技術是過去十年里吉時利推出的最具變革性的方法和儀器，吉時利一直以其高精度高品質的SMU即原測試單元而著稱，吉時利的原測試單元在過去的三十年里一直被當做直流伏安測試的標準，一些著名的產品例如236
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IV測試 技術簡介 半導體器件 特性測試
- 引言：EEE 1149.1邊界掃描測試標準(通常稱為JTAG、1149.1或dot 1)是一種用來進行復雜IC與電路板上的特性測試的工業標準方法，大多數復雜電子系統都以這種或那種方式用到了IEEE1149.1(JTAG)標準。為了更好地理解這種
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JTAG 嵌入式系統 電路 特性測試
- WLAN技術帶來了新挑戰，如何才能有效地消除干擾？WLAN基站和接入點功率管理的效率如何？這些問題必須通過綜合測試方案加以解決，本文專門論述了WLAN器件開發和網絡規劃中關鍵特性測試的意義和優勢。WLAN技術為半導體
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WLAN 器件 網絡規劃 特性測試
- 摘要：這里采用一種基于動態電容充電方法，結合高速A／D采樣和數據處理，實現對光伏陣列的現場I-V特性測試。該方法具有安全性高、體積小、成本低、精度高等特點，并可用于更大功率的光伏陣列現場測試。詳細介紹了系統
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I-V 小功率 光伏陣列 特性測試
- 超快速IV測量技術是過去十年里吉時利推出的最具變革性的方法和儀器，吉時利一直以其高精度高品質的SMU即原測試單元而著稱，吉時利的原測試單元在過去的三十年里一直被當做直流伏安測試的標準，一些著名的產品例如236
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IV測試 半導體器件 特性測試
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