電壓超標(biāo) 文章 最新資訊
Buck芯片失效分析
- 早年間，2A、3A的Buck芯片失效一直困擾著我，從器件失效形貌上看是EOS失效，但是一直找不到造成EOS失效的根因 ，最終 在22年技術(shù)攻關(guān)中，終于找到了失效根因 。對分析履歷進行回溯梳理，導(dǎo)致該問題成為技術(shù)難題的原因是導(dǎo)致Buck芯片EOS的原因有多個，當(dāng)找到其中一個原因后將所有的EOS都歸結(jié)到這個原因上，但發(fā)現(xiàn)導(dǎo)入對策后Buck芯片EOS的問題并沒有收斂，因此又重啟問題進行技術(shù)攻關(guān) ，但還好最終找到了失效根因。下文將對FCCM模式的Buck芯片EOS失效可能的一個失效機理進行分析，給可能遇到這個問題
- 關(guān)鍵字： Buck芯片 EOS失效 反向Boost 電壓超標(biāo) EN時序管控
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電壓超標(biāo)介紹
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