- 問題人工智能(AI)應用對高性能內存，特別是高帶寬內存(HBM)的需求不斷增長，這是否會導致自動測試設備(ATE)廠商的設計變得更加復雜？回答AI需要高密度和高帶寬來高效處理數據，因此HBM至關重要。ATE廠商及其開發的系統需要跟上先進內存接口測試的發展步伐。ADI公司的CMOS開關非常適合ATE廠商的內存晶圓探針電源測試。這些CMOS開關擁有快速導通和可擴展性等特性，能夠提升測試并行處理能力，從而更全面、更快速地測試內存芯片。簡介隨著AI應用對高性能內存，尤其是高帶寬內存(HBM)的需求不斷增長，內存芯
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自動測試設備 PhotoMOS ADI
- 本文提出，CMOS開關可以取代自動測試設備(ATE)廠商使用的PhotoMOS?開關。CMOS開關的電容乘電阻(CxR)性能可以與PhotoMOS相媲美，且其導通速度、可靠性和可擴展性的表現也很出色，契合了先進內存測試時代ATE廠商不斷升級的需求。
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自動測試設備 PhotoMOS ADI
- 組件電源（DPS）IC能夠彈性加載電壓、加載電流，為自動測試設備（ATE）提供動態測試能力。當負載電流在兩個可編程電流限值之間時，DPS IC為電壓源，并且在達到設定的電流限值時平穩轉換為精密電流源/灌電流。圖一為ADI新一代組件電源IC MAX32010的簡化框圖。開關FIMODE、FVMODE和FISLAVE MODE選擇不同的工作模式，例如：加載電壓（FV）、加載電流（FI）和FI Slave模式；開關HIZF和HIZM分別選擇MV （電壓測量）和MI （電流測量）模式。RANGE MUX與外部檢流
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自動測試設備 組件電源 ADI
- ?? Boston Semi Equipment Group（BSE 集團）旗下公司 Test Advantage 宣布已經收購了位于菲律賓的一家面向自動測試設備 (ATE) 市場的硬件維修中心 Microstats, LLC。這兩家公司將整合它們的產品、解決方案和共同的客戶群，以增強 Test Advantage 在后端半導體市場的產品和服務。
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Test Advantage Microstats 自動測試設備
- 首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷股份有限公司(納斯達克代號：VRGY)，本次于半導體業界之主要研究暨分析公司VLSIresearch所舉辦的2011年客戶滿意度調查中榮膺“最佳測試設備供應商“與“10大最佳晶片制造設備大型供應商“等兩大獎項的肯定。
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惠瑞捷 自動測試設備
- 為了向半導體行業提供融合了設備專長與創新金融解決方案的獨特組合，業內資深人士 Douglas Elder、Bryan Banish、Colin Scholefield 和 Sandy Garrett 今天宣布創辦 Boston Semi Equipment, LLC(BSE 集團)。BSE 集團由私人集資，其目標是在半導體設備行業設定新的基準，將創新金融解決方案與經驗、專長和基礎設施結合起來，以支持全新和二手半導體生產設備的租賃、銷售、訂制改造和服務。
傳統的資本設備融資解決方案過去一直無法支持
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半導體設備 自動測試設備
- 摘要：SOC已經成為集成電路設計的主流。SOC測試變得越來越復雜，在設計時必須考慮DFT和DFM。本文以一SOC單芯片系統為例，在其設計、測試和可制造性等方面進行研究，并詳細介紹了SOC測試解決方案及設計考慮。
關鍵詞：單芯片系統；面向測試設計；面向制造設計；位失效圖；自動測試設備
引言
以往的系統設計是將CPU，DSP，PLL，ADC，DAC或Memory等電路設計成IC后，再加以組合變成完整的系統，但現今的設計方式是
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SOC 單芯片系統 面向測試設計 面向制造設計 位失效圖 自動測試設備
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