- 中美貿易戰持續延燒，引發后續波及全球的貿易戰爭，當中更是突顯知識產權合法的重要性。有鑒于此，深耕于開發內存測試與修復技術的芯測科技(iSTART-Tek，簡稱iSTART)為了協助客戶對知識產權領域規避嚴重失信的風險，日前推出最新便捷版內存內建式自我測試(MBIST)測試方案「EZ-BIST」，適用于MCU相關的系統芯片開發商。采用芯測科技(iSTART)所提供低成本且高效率的內存測試開發工具，可協助客戶快速的開發產品，避免忽略內存測試的細節而導致產品良率下降，而其適用的應用如觸控屏、指紋辨識、語音識
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芯測 EZ-BIST
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