在現代電子設備中，元器件的可靠性是系統穩定運行的基石。然而，在實際應用中，我們常常會遇到各種各樣的器件失效問題。其中，過電應力（Electrical Over Stress, EOS）導致的失效占比超過80%以上，而器件本身質量原因導致的失效案例形貌上通常與“EOS”形貌類似，故因器件本身質量原因導致的失效很多時候常常被誤判或忽視。本文將簡單學習EOS的失效機理、典型特征、與靜電放電（ESD）的異同，然后結合兩個功率器件失效實際案例，簡述如何通過“EOS”的現象找到失效根因。一、何為過電應力（EOS）？E
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