- 2015 年6 月16 日，全球領先的半導體測試設備供應商愛德萬測試發表全新存儲器測試系統T5833，新系統同時支持DRAM 與NAND 閃存器件的晶圓測試及后道封裝測試，可滿足低成本大規模量產測試需求。T5833 預定本月開始出貨。
隨著移動電子設備銷售量的不斷攀升，主要搭載于智能手機及平板電腦上的DRAM、NAND 閃存與多芯片封裝存儲器 (MCP) 正朝著快速提升速度與容量的方向發展，這個趨勢也同樣顯見于網絡和云端服務器市場。然而，當今存儲器種類繁多，測試成本是一大障礙，因此芯片制造商急需
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愛德萬，T5833
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