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RF微波測試 正確性 DUT 量測儀器
- 面向集成設備制造商(IDM)和最終測試分包商，設計和制造測試分選機、測試座、測試負載板的領先廠商Multitest公司，日前宣布欣然宣布其MT9510通過擴展溫度校準(XTC)功能實現了擴展溫度控制。
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Multitest 測試負載板 DUT
- 電子設計中經常碰到的問題是對待測電路(DUT)傳輸特性的測試，這里所說的傳輸特性包括增益和衰減、幅頻特...
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DDS信號源 掃頻測試 DUT
- 為測試電子和機電器件設計開關系統所遇到的問題和設計產品本身一樣多。隨著器件中高速邏輯的出現以及與更靈敏模擬電路的連接，使得降低測試開關系統中的噪聲比以前任何時候更加重要。
本文所述的噪聲降低技術準則是針對信號頻率低于300MHz、電壓低于250V、電流小于5A和電壓乘赫茲積小于107。
任何新式測試系統都用很多信號和電源線來仿真和測量DUT(待測器件)，并有各種各樣的開關進行自動連接。通用測試系統結構示于圖1。控制總線示于圖中左邊。模擬、數字和電源總線作為垂直線對示于不同子系統后面。
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測試 噪聲 DUT
- 消費類電子產品正在變得更復雜和更快速，因而使得測試成本成為問題。大的和復雜的SoC往往是消費類產品的心臟，不管它們的性能多么先進，其成本必須是低的。
各種內裝自測試(BIST)已應用于測試DUT(被測器件)的內部性能，導致產品較低的生產成本。剩下的主要問題是快速串行接口(如PCI Express，Serial ATA，FibreChannel和Serial RapidIO)的全面測試。這些高速鏈路在計算、通信和音視頻娛樂前進中是不可缺少的。
重視測試成本是一個重要的問題，設計人員已應用BI
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BIST DUT
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