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imc test&measurement 文章 最新資訊

C++test在對Tornado 2.2-VxWorks-5.5 simulator 下

  • 使用C++test在Tornado 2.2-VxWorks-5.5 simulator 下針對CPP代碼做單元測試時,出現不能獲取測試結果的問題,反復偵測問題的緣由,查看幫助文檔,終于在幫助文檔中找到如下一些說明:“The default build of Vx
  • 關鍵字: simulator  Tornado  VxWorks  test    

ARM RVDS - C++test Window下的測試

  • ARM RVDS - C++test Window下 測試一
  • 關鍵字: Window  RVDS  test  ARM    

Web 2.0技術在iMC中的應用

  • 1 概述Web 2.0是相對Web 1.0的新的一類互聯網應用的統稱。Web 1.0的主要特點在于用戶通過瀏覽器獲取信息。Web 2.0則更注重用戶的交互作用,用戶既是網站內容的瀏覽者,也是網站內容的制造者。所謂網站內容的制造者是
  • 關鍵字: Web  2.0  iMC  中的應用    

Test Advantage 收購Microstats

  • ?? Boston Semi Equipment Group(BSE 集團)旗下公司 Test Advantage 宣布已經收購了位于菲律賓的一家面向自動測試設備 (ATE) 市場的硬件維修中心 Microstats, LLC。這兩家公司將整合它們的產品、解決方案和共同的客戶群,以增強 Test Advantage 在后端半導體市場的產品和服務。 ???
  • 關鍵字: Test Advantage   Microstats  自動測試設備  

基于PXI和LabVIEW的FCT(Functional Circuit Test)

  • 挑戰:通過PXI 控制板卡和LabVIEW軟件,構建一套比較完整齊全的PCB板的功能測試(FCT)系統,利用該系統可實現對音頻視頻以及各種靜態參數(電壓、電流、頻率)的綜合性全自動測試,對于新開發生產的PCB板,工廠無需頻
  • 關鍵字: Functional  LabVIEW  Circuit  Test    

NI今日發布 Measurement Studio 2009

  •   美國國家儀器有限公司(National Instruments,簡稱NI)于今日發布了Measurement Studio 2009,幫助使用Microsoft Visual Studio 2008、Visual Studio 2005或Visual Studio .NET 2003的工程師縮短創建測試及測量應用的開發時間。Measurement Studio 2009通過提供集成 I/O支持、本地庫和用戶界面更新等功能簡化了數據采集、分析和顯示。軟件引入了對最新PC技術的支持,包括64位 .NET應
  • 關鍵字: NI  軟件  Measurement Studio  

NI發布Measurement Studio 8.1,進一步簡化遠程監控功能的操作

  •  工程師們現在可以輕松實現對于分布式測試系統的遠程監控 美國國家儀器有限公司(National Instruments,簡稱NI)宣布了Measurement Studio8.1版本的發布,這是一套基于Micorsoft Visual Studio,并專用于測試、測量和自動化應用的完整類庫和用戶界面控件。Measurement Studio 8.1簡化和加速了使用全新網絡變量的遠程監控過程,這些網絡變量幫助工程師在Microsoft&n
  • 關鍵字: 8.1  Measurement  NI  Studio  測量  測試  遠程監控功能  

NI發布Measurement Studio 8.1簡化遠程監控功能的操作

  • NI發布Measurement Studio 8.1,進一步簡化遠程監控功能的操作 工程師們現在可以輕松實現對于分布式測試系統的遠程監控 美國國家儀器有限公司(National Instruments,簡稱NI)宣布了Measurement Studio8.1版本的發布,這是一套基于Micorsoft Visual Studio,并專用于測試、測量和自動化應用的完整類庫和用戶界面控件。Measurement Studio 8.
  • 關鍵字: 8.1  Measurement  NI  Studio  簡化遠程監控功能  通訊  網絡  無線  消費電子  消費電子  

科利登獲《測試與測量世界》Best in Test Award

  • 科利登系統有限公司(Credence Systems Corporation, 納斯達克代碼:CMOS)日前宣布其Sapphire D-10系統榮獲2006年度《測試與測量世界》雜志授予的”Best in Test award”(譯:最佳測試獎)獎項。 Sapphire D-10是下一代成本敏感型消費類芯片測試系統。Sapphire D-10是一款極緊湊的測試系統,它采用先進科技,集成了更多更好的特性功能。Sapph
  • 關鍵字: Award  Best  in  Test  測試與測量世界  科利登  測試測量  
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