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LabVIEW2012增強(qiáng)測(cè)控系統(tǒng)的可擴(kuò)展性,助力用戶(hù)獲得成功

推薦的應(yīng)用架構(gòu)可節(jié)省時(shí)間、確保可擴(kuò)展性并降低維護(hù)成本; 用戶(hù)直接反饋有關(guān)提高開(kāi)發(fā)效率的建議，帶來(lái)了更高的系統(tǒng)穩(wěn)定性與更強(qiáng)的運(yùn)行環(huán)境;支持大量新的硬件產(chǎn)品，凸顯NI著重于擴(kuò)大平臺(tái)功能，幫助用戶(hù)搭建尖端系統(tǒng)
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UFSC將LabVIEW和NI CompactDAQ用于車(chē)輛聲學(xué)波束成形中

　　　　Gallery 　　聲學(xué)圖像識(shí)別50公里時(shí)速、1,904.3 Hz下的輪胎和排氣噪聲　　"我們選擇了緊湊且直流供電的NI硬件，它能為陣列中的麥克風(fēng)提供電源。" 　　- Samir N.. Gerges, Federal University of Santa Catarina (UFSC) 　　The Challenge: 　　開(kāi)發(fā)一款便攜且價(jià)格合理的聲學(xué)波束形成形，實(shí)現(xiàn)通過(guò)噪聲測(cè)量和其他應(yīng)用中的噪聲源識(shí)別。　　The Solution
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汽車(chē)座椅調(diào)節(jié)電機(jī)生產(chǎn)線終端噪聲測(cè)試系統(tǒng)

　　　　Gallery 　　圖1. 汽車(chē)座椅調(diào)節(jié)電機(jī) 　　"隨著舒適車(chē)司機(jī)對(duì)功率調(diào)節(jié)器需求的不斷增加，座椅調(diào)節(jié)電機(jī)也繼續(xù)向模塊化設(shè)計(jì)原則轉(zhuǎn)移，電機(jī)工作過(guò)程中的噪音成為影響舒適性的決定性因素。我們利用NI的LabVIEW和動(dòng)態(tài)信號(hào)采集卡為電機(jī)生產(chǎn)線終端量身定制噪聲測(cè)試設(shè)備，集電機(jī)運(yùn)動(dòng)控制和噪聲測(cè)量為一體，來(lái)滿(mǎn)足生產(chǎn)線的快節(jié)奏。 " 　　- 巴軍, 上海崧杰自動(dòng)化系統(tǒng)有限公司　　The Challenge: 　　座椅調(diào)節(jié)電機(jī)的測(cè)試過(guò)程中，需要模擬真實(shí)的
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NI為無(wú)線通信實(shí)驗(yàn)室設(shè)計(jì)動(dòng)手實(shí)踐課程

　　 ? 　　圖1: NI USRP 　　"結(jié)合LabVIEW和NI USRP的軟硬件優(yōu)勢(shì)，學(xué)生可以創(chuàng)建整個(gè)通信系統(tǒng)信號(hào)鏈路中的各個(gè)功能模塊，并觀察各點(diǎn)的信號(hào)特征。" 　　- Dr. Sachin Katti, Stanford University 　　挑戰(zhàn): 　　除了理論授課和軟件仿真之外，在盡可能低的年級(jí)就引入動(dòng)手實(shí)踐教學(xué)環(huán)節(jié)，在通信理論的入門(mén)課程中就為學(xué)生提供與真實(shí)射頻信號(hào)的交互實(shí)驗(yàn)機(jī)會(huì)，激發(fā)學(xué)生的學(xué)習(xí)興趣。　　解決方案: 　　使用NI USRP
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NI無(wú)線通信實(shí)踐動(dòng)手課程實(shí)驗(yàn)室設(shè)計(jì)

電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
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丹麥 DELTA 公司使用 NI 平臺(tái)開(kāi)發(fā)量測(cè)系統(tǒng)

由于以 NI-DAQmx 作為核心驅(qū)動(dòng)程序進(jìn)行 NI PXI-4472 模塊的程序設(shè)計(jì)，可降低成本并達(dá)到高通道數(shù)，因此我們針對(duì)自己的 noiseLAB 軟件使用 LabVIEW 開(kāi)發(fā)環(huán)境。- Carsten Thomsen, DELTA 挑戰(zhàn)：在循國(guó)際電工委員會(huì) (I
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NI成功舉辦第八屆高校教師交流會(huì)

　　新聞發(fā)布——2012年7月——美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱(chēng)NI)于7月19日在哈爾濱成功舉辦了第八屆NI高校教師交流會(huì)(Professor Day 2012) 。會(huì)議圍繞“圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)助力創(chuàng)新型工程教學(xué)與高效率院校科研”這一主題，共吸引了來(lái)自全國(guó)22個(gè)省/直轄市、110所高校的244余名教師共赴這場(chǎng)年度最新技術(shù)和成果展示交流盛會(huì)。　　　　在今年的主題演講中,
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NI成功舉辦第八屆高校教師交流會(huì)

美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱(chēng)NI)于7月19日在哈爾濱成功舉辦了第八屆NI高校教師交流會(huì)(Professor Day 2012) 。會(huì)議圍繞“圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)助力創(chuàng)新型工程教學(xué)與高效率院校科研”這一主題，共吸引了來(lái)自全國(guó)22個(gè)省/直轄市、110所高校的244余名教師共赴這場(chǎng)年度最新技術(shù)和成果展示交流盛會(huì)。
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NI發(fā)布AWR設(shè)計(jì)環(huán)境和LabVIEW之間的全新連接

新聞要點(diǎn): AWR設(shè)計(jì)環(huán)境? 中的新NI LabVIEW元素為AWR視覺(jué)系統(tǒng)模擬器?(VSS)的用戶(hù)擴(kuò)充了信號(hào)處理和儀器連接。 NI于6月19-21日，在加拿大蒙特利爾舉行的國(guó)際微波研討會(huì)(IMS)1315號(hào)展位上，展示其最新的連接。
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NI發(fā)布用于NI CompactRIO的無(wú)線I/O

美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱(chēng) NI)近日發(fā)布了一款新型無(wú)線網(wǎng)關(guān)和兩款新型測(cè)量節(jié)點(diǎn)，進(jìn)一步擴(kuò)展了NI 無(wú)線傳感器網(wǎng)絡(luò)(WSN)平臺(tái)的性能，證實(shí)了NI在推動(dòng)無(wú)線測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域發(fā)展上所作出的承諾。
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基于NI TestStand 和LabVIEW 開(kāi)發(fā)模塊化的軟件架構(gòu)

行業(yè)趨勢(shì)：當(dāng)今市場(chǎng)上的挑戰(zhàn)當(dāng)今企業(yè)所面臨的挑戰(zhàn)之一是測(cè)試成本越來(lái)越高。由于設(shè)備的復(fù)雜性不斷增加，所以...
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由于開(kāi)放成就非凡：NI的成功啟示

時(shí)間回溯到13年前的一場(chǎng)新生訓(xùn)練中，一家國(guó)際大廠的創(chuàng)辦人親自站上講臺(tái)，為在座的新進(jìn)員工講述自己的創(chuàng)業(yè)理念。底下一位員工至今印象猶深的是兩件事：一是一家公司最重要的事是對(duì)人的投資
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NI Compact RIO在海洋環(huán)境多物理場(chǎng)測(cè)量中的應(yīng)用

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NI自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)展望:系統(tǒng)軟件棧

　　軟件是自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的重要組成部分，軟件第一次被用于控制獨(dú)立的儀器到現(xiàn)在已有40多年。從那時(shí)起，軟件在自動(dòng)化測(cè)試中的作用日益凸顯。事實(shí)上，當(dāng)前大多數(shù)測(cè)試系統(tǒng)中，軟件開(kāi)發(fā)費(fèi)用通常是硬件成本費(fèi)用的2到10倍以上。從許多測(cè)試工程企業(yè)的工程人員的組成比例即可看出這種情況，即雇傭的軟件工程師比硬件工程師多。為了應(yīng)對(duì)軟件開(kāi)發(fā)成本的上升及產(chǎn)品開(kāi)發(fā)周期的縮短，當(dāng)前業(yè)界領(lǐng)先的公司都在強(qiáng)調(diào)設(shè)計(jì)一個(gè)強(qiáng)大的系統(tǒng)軟件棧，以確保他們?cè)谲浖矫娴耐度肽?夠被延續(xù)下去，提高軟件資源的重用率。事實(shí)上， 2010年NI進(jìn)行的測(cè)試經(jīng)理
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基于NI TestStand 和LabVIEW開(kāi)發(fā)模塊化的軟件架構(gòu)

當(dāng)今企業(yè)所面臨的挑戰(zhàn)之一是測(cè)試成本越來(lái)越高。由于設(shè)備的復(fù)雜性不斷增加，所以測(cè)試這些設(shè)備的成本也在不斷提高。因?yàn)闇y(cè)試對(duì)于產(chǎn)品質(zhì)量至關(guān)重要,而更加復(fù)雜的電子設(shè)備需要更新式、更先進(jìn)的測(cè)試儀器，所以產(chǎn)品的測(cè)試成本過(guò)高，無(wú)法與其較低的制造成本保持一致。
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