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NI參加2012 TD-LTE測(cè)試技術(shù)研討會(huì)
- 美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱NI)于2012年11月23日參加了由工業(yè)和信息化部電信研究院和TD技術(shù)論壇聯(lián)合舉辦的2012 TD-LTE測(cè)試技術(shù)研討會(huì)。NI在此研討會(huì)上發(fā)表了題為"重新定義移動(dòng)通信測(cè)試——從研發(fā)驗(yàn)證到制造測(cè)試"的精彩演講,演講人NI中國(guó)無(wú)線通信行業(yè)市場(chǎng)經(jīng)理湯敏被評(píng)為"企業(yè)演講最佳演講人"。
- 關(guān)鍵字: NI TD-LTE 通信
NI TestStand 2012采用新的模塊化框架
- 美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱 NI)近日發(fā)布全新版本的自動(dòng)化測(cè)試管理軟件 —— NI TestStand 2012。憑借其全新的模塊化流程架構(gòu),NI TestStand 2012幫助工程師提升了自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的靈活性和吞吐量。新的模塊化架構(gòu)讓測(cè)試設(shè)置變得更為容易,擴(kuò)展了測(cè)試和報(bào)告的靈活性,讓工程師可在并行測(cè)試中同時(shí)進(jìn)行這兩項(xiàng)任務(wù)。
- 關(guān)鍵字: NI TestStand 測(cè)試系統(tǒng)
設(shè)計(jì)壽命更長(zhǎng)的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
- 美國(guó)國(guó)防部(DoD)等國(guó)防組織一直面臨著削減成本的壓力,同時(shí)還要維持重要的防衛(wèi)任務(wù),并提高應(yīng)對(duì)新威脅的能力。...
- 關(guān)鍵字: 可互換虛擬儀器 UUT PXI 自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
儀器 ? 變革進(jìn)行時(shí)
- 由美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments,簡(jiǎn)稱NI)舉辦的“NIDays全球圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)盛會(huì)”中國(guó)站于11月16日在北京萬(wàn)達(dá)索菲特大飯店圓滿落幕。今年的NIDays以“儀器 ? 變革進(jìn)行時(shí)”為主題,向近千位來(lái)自不同行業(yè)的工程師和二十多家行業(yè)媒體全方位展示了NI在推動(dòng)測(cè)試測(cè)量、控制和設(shè)計(jì)領(lǐng)域及創(chuàng)新技術(shù)應(yīng)用方面一直所做的努力。
- 關(guān)鍵字: NI 測(cè)試測(cè)量 嵌入式
從GBIP到PXI--量測(cè)技術(shù)發(fā)展簡(jiǎn)史
- 前言對(duì)于當(dāng)今的電子工業(yè)而言,從組件到系統(tǒng)、設(shè)計(jì)到生產(chǎn),量測(cè)工作皆是不可或缺的一環(huán)。工廠必須借助量測(cè)獲知...
- 關(guān)鍵字: GBIP PXI 量測(cè)技術(shù)
NI TestStand 2012采用新的模塊化框架
- 美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱 NI)近日發(fā)布全新版本的自動(dòng)化測(cè)試管理軟件 —— NI TestStand 2012。憑借其全新的模塊化流程架構(gòu),NI TestStand 2012幫助工程師提升了自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的靈活性和吞吐量。新的模塊化架構(gòu)讓測(cè)試設(shè)置變得更為容易,擴(kuò)展了測(cè)試和報(bào)告的靈活性,讓工程師可在并行測(cè)試中同時(shí)進(jìn)行這兩項(xiàng)任務(wù)。
- 關(guān)鍵字: NI 自動(dòng)化測(cè)試
十五年磨礪 PXI應(yīng)用迎來(lái)黃金時(shí)代
- 基于PCI的PXI標(biāo)準(zhǔn)從1997年被提出以來(lái),作為挑戰(zhàn)存在已久的VXI出現(xiàn)的新鮮面孔,借助PC平臺(tái)的快速發(fā)展,PXI技術(shù)以驚人的速度在測(cè)試和控制應(yīng)用領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。在PXI快速發(fā)展的過(guò)程中,1998年成立的PXI系統(tǒng)聯(lián)盟起了重要的推廣作用,系統(tǒng)聯(lián)盟在1999年就達(dá)到了50家,為PXI的起跑提供了強(qiáng)有力的支撐。
- 關(guān)鍵字: PXI 測(cè)量測(cè)試 201210
LabVIEW系統(tǒng)設(shè)計(jì)軟件對(duì)數(shù)字開發(fā)的影響
- 長(zhǎng)期以來(lái)的預(yù)測(cè)趨勢(shì)揭示了整個(gè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)流程中的設(shè)計(jì)和測(cè)試趨于統(tǒng)一,這兩個(gè)先前獨(dú)立的功能將被集成在一起。集成功能的明顯優(yōu)勢(shì)在于縮短了投入市場(chǎng)的時(shí)間并獲得更好的整體質(zhì)量,而這些優(yōu)勢(shì)都?xì)w功于在創(chuàng)建設(shè)計(jì)的同時(shí)集成了測(cè)試定義和實(shí)現(xiàn)。在系統(tǒng)設(shè)計(jì)過(guò)程中,從仿真到實(shí)現(xiàn)以及最終系統(tǒng)部署,都可以對(duì)這些早期測(cè)試平臺(tái)進(jìn)行重用。
- 關(guān)鍵字: NI LabVIEW FPGA
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