面向老化測試系統的高壓繼電器有哪些要求？
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老化與壽命測試系統是半導體和電子產品可靠性測試中的關鍵工具。被測器件（DUT）如存儲芯片（DRAM、閃存）、處理器（CPU、GPU）、分立功率半導體（MOSFET、IGBT）以及寬禁帶器件（碳化硅和氮化鎵模塊）會在高溫高壓等加速應力條件下持續工作，以提前暴露早期失效并驗證其長期性能。 開關元件是這類系統的核心部件之一，負責連接、隔離或向每個被測器件路由信號與電壓。因此，可靠性、信號保真度以及高壓隔離能力缺一不可。
根據應用不同，老化測試設備可能需要支持最高約 200V 的低壓精密開關，用于IC測試和信號測量；也可能需要高達約 3kV 的高壓應力測試，主要用于功率半導體，如 MOSFET、IGBT 以及 SiC/GaN 器件。 在某些模塊化系統中，這兩種電壓范圍可能同時存在，但大多數老化設備通常只針對其中一種進行優化。
觸點密封，切換穩定無污染
低漏電流、高絕緣電阻，保證參數測量精度
體積小巧，機械與電氣壽命長
產品系列齊全，可同時覆蓋精密低壓與高壓需求
老化測試系統對開關器件提出了嚴苛要求。低壓（200V以下）方面，需在數千個 DUT 通道上保持信號完整性——接觸電阻、熱電動勢或寄生參數的微小漂移都會扭曲測量結果。干簧繼電器憑借穩定低阻觸點、低電容與電感，以及密封結構，可有效抑制這些誤差。 高壓（1kV 以上）方面的核心挑戰則轉向安全與隔離：必須避免介電擊穿、電弧和漏電流，否則測試結果將失效。
高壓干簧繼電器通過采用緊湊尺寸的玻璃密封干簧開關、具備高絕緣電阻，以及清晰界定的爬電距離和電氣間隙，從而簡化了 PCB 設計。 實際運行應力進一步增加了復雜性：老化測試可能持續數日，要求在高溫下實現數百萬次可靠切換。 干簧繼電器憑借堅固的線圈、一致的時序特性以及密封觸點，確保長期穩定性。 干簧繼電器兼具低壓精度與高壓耐用性，為系統提供了一種可靠的開關技術，簡化設計的同時提升了測試可靠性。
接觸電阻漂移會扭曲參數測量結果
觸點處產生的熱電動勢可能掩蓋微小的電壓變化
寄生電容與電感會干擾高靈敏度信號
老化與壽命測試系統是半導體和電子產品可靠性測試中的關鍵工具。被測器件（DUT）如存儲芯片（DRAM、閃存）、處理器（CPU、GPU）、分立功率半導體（MOSFET、IGBT）以及寬禁帶器件（碳化硅和氮化鎵模塊）會在高溫高壓等加速應力條件下持續工作，以提前暴露早期失效并驗證其長期性能。 開關元件是這類系統的核心部件之一，負責連接、隔離或向每個被測器件路由信號與電壓。因此，可靠性、信號保真度以及高壓隔離能力缺一不可。
根據應用不同，老化測試設備可能需要支持最高約 200V 的低壓精密開關，用于IC測試和信號測量；也可能需要高達約 3kV 的高壓應力測試，主要用于功率半導體，如 MOSFET、IGBT 以及 SiC/GaN 器件。 在某些模塊化系統中，這兩種電壓范圍可能同時存在，但大多數老化設備通常只針對其中一種進行優化。
觸點密封，切換穩定無污染
低漏電流、高絕緣電阻，保證參數測量精度
體積小巧，機械與電氣壽命長
產品系列齊全，可同時覆蓋精密低壓與高壓需求
老化測試開關的技術要求老化測試系統對開關器件提出了嚴苛要求。低壓（200V以下）方面，需在數千個 DUT 通道上保持信號完整性——接觸電阻、熱電動勢或寄生參數的微小漂移都會扭曲測量結果。干簧繼電器憑借穩定低阻觸點、低電容與電感，以及密封結構，可有效抑制這些誤差。 高壓（1kV 以上）方面的核心挑戰則轉向安全與隔離：必須避免介電擊穿、電弧和漏電流，否則測試結果將失效。
高壓干簧繼電器通過采用緊湊尺寸的玻璃密封干簧開關、具備高絕緣電阻，以及清晰界定的爬電距離和電氣間隙，從而簡化了 PCB 設計。 實際運行應力進一步增加了復雜性：老化測試可能持續數日，要求在高溫下實現數百萬次可靠切換。 干簧繼電器憑借堅固的線圈、一致的時序特性以及密封觸點，確保長期穩定性。 干簧繼電器兼具低壓精度與高壓耐用性，為系統提供了一種可靠的開關技術，簡化設計的同時提升了測試可靠性。
接觸電阻漂移會扭曲參數測量結果
觸點處產生的熱電動勢可能掩蓋微小的電壓變化
寄生電容與電感會干擾高靈敏度信號
穩定且低電阻的接觸可在數億次操作中保持測量完整性
低熱電勢可防止精密測試期間產生不必要的電壓偏移
低寄生設計確保高密度開關矩陣中的信號完整性
氣密封裝可防止污染，避免接觸性能受損
長期承受高壓易導致介質擊穿、電弧放電或局部放電風險
開關通路間的泄漏電流可能引發測量誤差
較大的間距要求可能制約電路板集成密度
緊湊型玻璃封裝的干簧繼電器結構，可在緊湊空間內實現高介電強度
高絕緣電阻能最大限度減少漏電流
明確的爬電距離和電氣間隙在保證安全裕度的同時，簡化PCB設計
將開關技術集成到老化測試設備時，工程師必須仔細權衡高通道密度的需求與高壓操作所需間距和絕緣要求。需要特別關注PCB布局與布線，尤其是在必須保持爬電距離和電氣間隙的電路中。緊湊尺寸與成熟的絕緣技術使干簧繼電器能夠在緊密排列的繼電器矩陣中實現千伏級的隔離耐壓。 對于敏感的低壓信號通路，可采用屏蔽或同軸繼電器選項，以最大限度減少磁耦合、串擾和雜散電容。 可靠性始終是老化測試系統的核心性能指標。開關矩陣中的故障不僅會影響測量精度，還可能浪費數天測試時間并占用寶貴的設備資源。經長期驗證，干簧繼電器可實現數十億次的可靠操作，為此類應用提供了理想解決方案。
老化測試儀對繼電器各項性能都提出了嚴苛挑戰。在低壓方面，電阻漂移、寄生參數及污染都可能影響測量精度；在高壓方面，絕緣強度與漏電流將同時威脅測試安全性與數據有效性。而在整個測試系統中，持續熱應力更要求元器件具備卓越的耐久性。 干簧繼電器通過密封穩定的觸點結構與緊湊的高介電強度設計，成功解決了這些難題。其提供的精確測量、高效隔離與可有效操作數億次的長壽命，正是老化測試系統不可或缺的核心要素。
關于上海斯丹麥德電子
上海斯丹麥德電子有限公司成立于2007年7月，隸屬于美國上市公司斯丹迪斯集團（Standex International Corp.）的電子業務分支。公司總部位于美國俄亥俄州費爾菲爾德，在全球多個國家設有生產基地，包括美國、德國、中國、墨西哥、英國、日本和印度等。作為全球磁傳感技術領域的市場領導者之一，我們致力于設計、研發、生產和銷售標準和定制的電磁產品。
我們的產品主要分為兩大類：以干簧開關為基體的衍生品和磁性產品。其中，以干簧開關為基體的衍生品采用了三個品牌的干簧開關（Meder、KENT、KOFU(原OKI)）。衍生品包括多系列干簧繼電器組合，以及多種類型的干簧傳感器，如接近傳感器、液位傳感器、水流傳感器等。這些產品廣泛應用于汽車、光伏、醫療、工業、家電、通信和安防等領域。我們以客戶需求為導向，通過合作 | 解決 | 交付?的工作流程，為客戶提供專業的磁傳感技術解決方案。
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