GE推出新型的x|act 檢測軟件，以配合phoenix microme|x and nanome|x 180伏高分辨率X射線檢測系統。該軟件可應用于電子部件的手工檢測，以及電子封裝中焊點的全自動、基于CAD的X射線檢測。x|act 檢測軟件操作簡易、可靠性更高，為制造提供實時的圖像信息，確保了缺陷檢測的高精確度。