新年伊始，北京中科泛華測控技術有限公司(簡稱;泛華測控)攜2010年度優異業績和對客戶深深的感激之情，分別在北京(1月7日)和上海(1月12日)兩地舉辦了“2011年泛華測控行業技術論壇暨客戶答謝會”。會議以“多面泛華 專注測控”為主題，向客戶展示了泛華在技術、行業和業績上的突破與張力。

　　會上，泛華測控副總經理高向東先生向與會來賓分享了泛華2010年的成績，并對大家的支持表示了感謝。他指出：2010年是泛華測控具有里程碑意義的一年，技術中心的成立驗證了泛華十余年奮斗的成果，也是泛華測控逐步轉型為以技術為支撐的企業的標志。他向來賓介紹技術中心的架構、人員配備和關注領域的同時，還就如何實現測試系統產品化，以及如何構建高效測試系統的方法與來賓做了深入探討。

　　與會同期，美國國家儀器有限公司(簡稱：NI)的工程師，以其自身對行業的認識和經驗，為現場帶來了題為“圖形化系統設計技術展望”的演講。NI的工程師以合作伙伴的角度，從軟件和硬件兩方面，闡述了圖形化系統設計技術的現狀與未來的發展趨勢。

　　作為國內杰出的測控企業，泛華測控十余年來以專業的技術，貼心的服務，自由的企業文化，不斷完善和自省的態度，吸引著一批又一批的客戶。新的一年，我們將繼續秉持著以專業技術為企業立足之本的理念，為客戶及測試測量行業的發展做出貢獻。