RF WCDMA基準比較測試白皮書
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為了更加全面準確地觀察PXI儀器所帶來的性能提升，所進行的這些測量需要進行若干次。下面所示的所有數據是在每一種配置下進行10次測量后的均值。如圖6中所示，若使用基于PXI的測量系統(而不是傳統儀器)，CCDF測量時間可以減少33%。此處，你可以看到NI 8353 四核機架式控制器可以達到最高的測量速度。
本文引用地址：http://cqxgywz.com/article/133986.htm對于處理器密集型的物理層測量來說，選擇不同的處理器對總體的測量時間影響很大。在圖7至9中，可以看到傳統儀器和PXI儀器在測量時間和平均次數之間的關系。
對于諸如EVM測量這樣的處理器密集型應用來說，選擇不同的處理器對總體的測量時間影響很大。例如，一個EVM測量如果設定為對五個點進行平均值運算，若使用PXIe-8130嵌入式雙核控制器需要342毫秒，若使用NI 8353四核控制器則所需時間縮減33%，只需要228毫秒。在相鄰通道泄漏比率(Adjacent channel leakage ratio, ACLR)測量中也可看到類似的結果，如圖8所示。
在ACLR測量中，使用PXI RF測量系統可以比傳統儀器快16倍。對于一個ACLR測量(不考慮配置所需時間)來說，典型的測試時間不超過8毫秒，這比常規的時域 ACLR測量時間還短。圖9所示為最后一項測量結果，即為占用帶寬的測量。
在圖9中你可以看到，對于一些測量來說，在達到相同的測量結果時，PXI RF儀器可以比傳統儀器快30倍。此外，在一些需要更多的平均次數的測量中，PXI儀器在絕對的測量時間上的優勢更為顯著。
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