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RF WCDMA基準比較測試白皮書

作者: 時間:2012-06-27 來源:電子產品世界 收藏

  測量值平均運算與重復性

本文引用地址:http://cqxgywz.com/article/133986.htm

  雖然平均運算對整體的測量時間影響較大,但是仍需要通過平均運算以實現可重復的測量結果。由于測量值平均運算事實上增大了總體的測量時間,所以弄清平均運算次數與重復性精度之間的關系非常重要。因為可以通過平均來降低信號中的一些噪聲,你可以看到:隨著平均次數的增加,連續運行的重復性精度提高。圖10中所示, 在不同的平均值次數的配置下的EVM標準差。  

   如圖10所示,所有的EVM測量都是針對一個WCDMA幀內進行,相當于2600 chip。請觀察測量重復性精度與平均次數的關系。在圖10所示結果中僅僅使用了1000組數據,而對于大多數產品測試應用來說,通常需要更大的數據集。事實上,許多測試都是使用多個儀器,因此需要一個更精確的模型,以表征測量重復性。

  使用e-5663 矢量信號分析儀和e-5673 矢量信號發生器,你可以很容易地實現優于1%的EVM測量。表3所示為更重配置下實現的均值和標準差。  

   5663 矢量信號分析儀和e-5673 信號發生器可以對WCDMA標準實現精準的、可重復的EVM測量。

  結論

  隨著無線通信技術的使用越來越廣泛,減少其測量時間所需的難度越來越大。幸運的是,PXI測量系統可以利用計算領域的最新技術。事實上,如本文中的數據所示,執行于多核PXI處理器上的并行的測量算法比傳統儀器上的類似算法有顯著的速度優勢。因此,借助于National Instruments新推出的PXI 6.6 GHz RF測量平臺,你可以在應對RF測試中的新挑戰的同時降低測試成本。

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關鍵詞: NI RF PXI

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