基于JTAG的星型掃描接口的設計及其仿真
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串型等價掃描的關鍵是SSD操作，本文中，以單個TAP.7控制器和CLTAPC為例,對SSD指令的功能仿真驗證，結果分別如圖7所示。
邊界掃描測試技術廣泛應用于超大規模集成電路中，測試標準的發展為測試接口設計提出了更高的要求。IEEE 1149.7測試標準中規范的TAP.7接口具有傳統TAP.1接口所沒有的功能特性，因此對它的研究具有深遠意義。本文中設計的支持星型掃描技術的接口是一種基于原有JTAG器件的TAP.1接口，在TAP.1接口上添加相應的邏輯硬件層實現擴展功能的升級接口，在目前基于TAP.1接口的系統級測試中有很好的應用前景。本文中的接口設計方法具有良好的可擴展特性，為以后進一步功能升級奠定基礎，從而避免了重復開發所帶來的資源浪費,同時對IEEE 1149.7標準規范的系統器件的研究和設計具有很好的參考價值。
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