隨著主流市場即將演進到SuperSpeed USB，許多設計團隊正力圖加快設計認證。本文將為您提供專家建議參考，幫助您輕松完成這一過程。

盡管市場上已經出現了早期的USB 3.0產品，但主流市場轉向SuperSpeed USB還有待時日。部分原因在于，USB 2.0接口無所不在，且生產成本低廉。高帶寬設備（如攝像機和存儲設備）已經率先演進到SuperSpeed USB。但就目前而言，基于成本因素考慮，USB3.0實施仍限于較高端的產品。

大規模部署任何新的行業標準（包括USB3.0）都存在內在挑戰。此外，USB2.0到USB 3.0并非簡單的跳躍，其性能提高了十倍之多。盡管性能得到大幅度提升，但消費者對低成本互連設備的預期并沒有改變。這就給工程師們帶來了明顯的壓力，需要在一個原本速度很低的信號通道上傳輸高速率信號，同時要在各種條件下保證可靠性、互操作能力和高性能。為保證物理層(PHY)一致性和認證，測試變得空前關鍵或重要。

USB 3.0擁有許多其它高速串行技術（如PCI Express和串行ATA）共有的特點：8b/10b編碼，明顯的通道衰減，擴頻時鐘。本文將介紹一致性測試方法及怎樣對發射機、接收機及線纜和互連進行最精確的、可重復的測量。在掌握了這些竅門之后，您便可以更有效地準備SuperSpeed PIL(Platform Integration Lab)之行了。

High Speed Vs. SuperSpeed

USB設備達數十億，因而USB 3.0也提供了向下兼容能力，支持傳統USB 2.0設備。然而，USB 2.0和3.0在物理層有多種差異 （表1）。

表1. USB 2.0 和 SuperSpeed USB物理層區別

SuperSpeed USB一致性測試已經有明顯變化，以適應更高速接口帶來的新挑戰。USB 2.0接收機驗證需要執行接收機靈敏度測試。USB 2.0設備必須對150 mV及以上的測試包做出響應，并且忽略100 mV以下的信號。

SuperSpeed USB接收機必須面對更多的信號損傷，因此測試要求要比USB 2.0更加苛刻。設計人員還必須考慮傳輸線效應，在發射機中使用均衡技術（包括去加重），在接收機中使用連續時間線性均衡技術(CTLE)。此外，現在還要求在接收機上進行抖動容限測試，使用擴頻時鐘(SSC)和異步參考時鐘可能會導致互操作能力問題。

評估USB 3.0串行數據鏈路另一個重要部分是被測波形與互連通道的聯系非常復雜。不能再認為只要發射機輸出滿足了眼圖模板，電路就一定能在傳輸損耗滿足要求的通道中正常工作。想了解發射機余量一定時的最差的傳輸通道，您需要在一致性測試要求以外建立通道和線纜組合模型，使用通道建模軟件，分析通道效應 (圖1)。

圖1. 軟件工具，可以針對參考測試通道分析USB 3.0 通道效應。