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羅德與施瓦茨應邀參加2016 APAC IIA 會議,展示其先進的PCB 測試解決方案

作者: 時間:2016-10-11 來源:電子產品世界 收藏

  2016年9月21日,INTEL 公司在深圳舉辦了2016 APAC IIA研討會,羅德與施瓦茨公司(R&S公司)應邀參加本次會議,并展示了其基于Delta-L+的 測試解決方案。本次APAC IIA (APAC Interconnect Industry Association )會議針對印刷電路板的電氣特性方法與驗證(如傳輸線損耗)展開探討,參會者主要來自于 廠商、材料廠商、儀器廠商和終端使用者。

本文引用地址:http://cqxgywz.com/article/201610/311178.htm

  INTEL依據產業的需要,加速開發系統化的實現流程,來滿足PCB設計和不同階段驗證的需求,以供業界使用參考。本次會議INTEL介紹了Delta-L+等技術方法的最近進展情況,來幫助PCB廠商、材料廠商和儀器廠商更好的理解INTEL的印刷電路板電學需求和電氣特性驗證方法的路線圖,具備進行傳輸線特性測量和分析的能力,這對于PCB精確的測試和建模是至關重要的。

  根據INTEL的PCB 測試方法和規范,R&S公司聯合Packetmicro公司和MST公司,共同開發了一整套PCB特性測試的解決方案,本方案基于R&S公司的ZNB 矢量網路分析儀,內嵌MST的EMStar測試分析軟件,再結合PacketMicro公司的高性能高可靠的探針,最后使用Delta-L+算法,可精確測試PCB的傳輸線損耗和相關參數,該方案精確,快速,便捷,不僅滿足INTEL最新的PCB測試標準,還滿足對通用PCB的電學特性測試。

  

 

  本次活動是R&S公司首次展示其領先的PCB 測試整體解決方案,該方案支持高達20GHz的高速PCB 探針測試以及更高頻的同軸測試,可以很好的服務于整個PCB行業的測試驗證工作。該方案也得到了與會者的廣泛關注,與會者與R&S技術專家進行了深入的交流和溝通,反應熱烈。

  



關鍵詞: R&S PCB

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