久久ER99热精品一区二区-久久精品99国产精品日本-久久精品免费一区二区三区-久久综合九色综合欧美狠狠

新聞中心

EEPW首頁 > 測試測量 > 設計應用 > 納米技術所需的電測量方法— 概述

納米技術所需的電測量方法— 概述

作者: 時間:2016-12-26 來源:網絡 收藏
有廣泛且多樣化應用的納米科學技術[1],推動著研究者不斷運用碳納米管[2]、化學分子、量子點、甚至聚合物研發出新的材料和元器件。對這些納米尺度的元器件與材料進行的特性測量遠非輕而易舉,因為其中許多具有低電流、低電阻[3]、高電阻和低功率等電特性。

這篇文章將深入揭示納米技術所需的電測量方法,并示出了基于碳納米管的材料[4]、電子電路、分子電子學和材料學等方面的示例。文中將探討影響如此敏感的測量的各類測量不確定性的來源,并對可用的測試設備解決方案進行了討論。

納米技術與科學吸引著來自于電子學乃至化學再到生物學的諸多學科領域的研究者,人們正在開發多種多樣的潛在應用和產品,這些應用與產品將對多個產業產生重大的影響。無論是傳感器[5]、給藥系統、更堅固和輕巧的材料、更快與更小的電子元器件,還是更高效的能量系統,都將成為納米技術研究的創新成就。

為了應對納米科學的挑戰,研究者必須進行多種多樣的測量工作,包括電流-電壓(I-V)特性、電阻、電阻率和電導率、輸運、光譜和能量的測量,以揭示物質在納米尺度上的錯綜復雜的規律,并基于納米材料來制作可靠的電子器件。為了達到這一目標,納米科技研究者需要具備敏感的電測量工具,并理解電測量的原理。


評論


技術專區

關閉