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讓EMI測試之痛成追憶

作者: 時間:2016-12-27 來源:網絡 收藏
船翻了,它還在
我來了,它走了
你,還好嗎
(致為EMI測試傷懷的小伙伴們)

一、EMI預一致性測試和調試成為工程師在電子產品設計中不可回避的問題

本文引用地址:http://cqxgywz.com/article/201612/334394.htm

1.EMI調試是一項痛苦的工作,工程師必需找到噪聲來源的根本原因,以解決噪聲

  • 通過改變元器件,進行工藝調試

  • 截短PCB線路,然后重連,直到找到噪聲來源

  • 很難找到導致EMI的模擬信號和/或數字信號

2.很難捕獲偶發的EMI突發

  • 需要擁有長儀器采集時間的實時頻譜分析儀

  • 大多數頻譜分析儀不是實時系統

  • 大多數實時頻譜分析儀成本高,攜帶不方便

3.在器件發射RF功率時,RF可能會給電路帶來負面影響,這可能會大幅度改變EMI

二、針對這些問題,泰克提出了解決方案

1.利用RSA306B、RSA50XA和RSA60XA進行預一致性測試:

  • DPX和三維頻譜圖可以查看持續時間短的EMI突發

    ? 預先定義的一致性測試模板

    ? 使用SignalVu-PC記長時間的EMI信號

    ?速度:窄RBW,掃描速度快

  • DPX使用頻譜輻射模板(SEM)把EMI事件與RF功率事件關聯起來

  • 基于PC的經濟型實時頻譜分析儀

    ?可以在PC上完成預一致性測試,無需等待

    ?提供預一致性測試預置,簡便易用

2.利用MDO進行調試:

  • MDO4000C的頻域和時域相關功能可以迅速識別EMI來源

  • MDO4000C頻譜時間與模擬信號和/或數字信號相關,以獨特的方式查看頻域和時域特點

  • 了解和修復導致EMI噪聲的模擬信號和/或數字信號




關鍵詞: EMI測試測試和調

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