元器件操控器將單個(gè)HBLED（或者一組HBLED）運(yùn)送到一個(gè)測試夾具上，夾具可以屏蔽環(huán)境光，且內(nèi)帶一個(gè)用于光測量的光電探測器（PD）[1]。需要使用兩個(gè)SMU：SMU#1向HBLED提供測試信號(hào)，并測量其電響應(yīng)；SMU#2則在光學(xué)測量過程中檢測光電探測器。

測試程序可以被編程設(shè)定為，在一根來自于元器件操控器的數(shù)字信號(hào)線[作為“測試啟動(dòng)”（SOT）[2]]控制下啟動(dòng)。當(dāng)儀器探測到該信號(hào)時(shí)，測試程序啟動(dòng)。一旦執(zhí)行完畢，則讓元器件操縱器的一條數(shù)字信號(hào)線發(fā)出“測試完畢”的標(biāo)志。此外，儀器的內(nèi)建智能可以執(zhí)行所有的通過/不通過操縱并通過儀器的數(shù)字I/O端口發(fā)送數(shù)字指令至元器件操縱器，以便讓HBLED能根據(jù)通過/不通過標(biāo)準(zhǔn)來對(duì)HBLED進(jìn)行分類。于是可以通過編程讓兩個(gè)動(dòng)作同時(shí)執(zhí)行：數(shù)據(jù)傳送至PC進(jìn)行統(tǒng)計(jì)處理，而同時(shí)一個(gè)新的DUT[3]運(yùn)送到測試夾具上。
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