典型的測試設備結構

當我們在選擇生產測試設備時，考慮前面提到的三大類系統是大有裨益的：

u 單機/單通道I-V解決方案

u 并行I-V測試系統

u 可隨意組合的多通道系統

單機/單通道[2]I-V解決方案――常適合于對成本不是特別敏感的應用。在此類應用中，可采用較低速的源－測量架構。多個源－測量單元（SMU）可與開關矩陣一同使用，構成多通道系統，但是這種配置限制了機架密度及系統吞吐量不能很高。在較小規模的系統中，一般由PC機控制，通過GPIB[3]或外部觸發來控制SMU。但是，其中有一些系統具有內部的程序存儲器，可允許在沒有PC機控制情況下儲存和執行測試序列，減少了速度相對慢的GPIB接口通信量。通常，對SMU沒有程序存儲功能或有程序存儲功能但容量有限制時，用戶開發由PC控制執行的測試應用程序（采用SCPI[4] 命令）是十分必要的。