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分立電阻器檢定測試系統的常見誤差來源——引線電阻

作者: 時間:2017-02-06 來源:網絡 收藏

為了避免測量誤差,必須根據待測電阻器的阻值大小使用特定的測量技術。對于小電阻(<100Ω)測量,引線電阻和熱電動勢可能帶來誤差問題。當測量大電阻(>10MΩ)時,漏電流和靜電干擾可能導致讀數錯誤。

本文引用地址:http://cqxgywz.com/article/201702/338566.htm

引線電阻

測量小電阻(<100Ω)時常見的誤差來源是從2400數字源表到電阻器之間測試引線的串聯電阻。當采用兩線連接時,這個串聯電阻添加到測量中(參見圖1)。當連接線纜較長且使用的電流較大時,引線電阻的引入會對測試產生嚴重影響,因為同測得的電壓相比,引線電阻產生的電壓降是不可忽視的。


圖一雙線技術


圖2四線連接


為了避免這個問題,使用四線測量方法而不采用兩線技術。利用四線方法(圖2),使用一對引線為電阻提供電流激勵,并通過另一對引線測量電阻電壓降。因此,測得的結果只是被測電阻兩端的電壓降。



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