隨著Chiplet、車規級芯片與高性能計算芯片滲透率持續提升，半導體測試需求迎來爆發式增長。老化測試作為篩除早期失效、保障芯片長期可靠性的關鍵環節，對設備供電系統提出嚴苛要求：不僅要確保長時間穩定運行，還需應對動態負載、高溫環境等復雜挑戰。面對長達1-7天的測試周期，如何在單位時間內完成更多測試任務，直接決定產線效率與測試成本。

金升陽POL電源系列始于2018年，緊貼DOSA/POLA標準設計，融合數字電源技術，以其高精度、高密度、高效率的特性，成為低壓大電流應用的優質可靠之選。

一、產品特點

1、寬壓可調，降本提效

寬范圍輸入電壓： 4.5-14.4 VDC，輸出電壓可調：0.6-5.5 VDC。通過上位機快速調節輸出，以滿足各類低壓DUT的測試需求，提升測試設備歸一化程度，降低設備購置成本。

2、大電流輸出，滿足并行需求

產品系列覆蓋6-100A電流范圍，滿足多模塊并行老化的應用需求。以KD12T-60A為例，若單個DUT負載為0.8-1A，可同時老化＞60pcs DUT，測試效率大幅提升。

3、超小體積，適配緊湊空間

體積低至12.20*12.20*8.6mm，完美適配老化測試夾具的極致空間需求。

4、輸出穩定，保障測試一致性

老化測試周期較長，對電源長期穩定運行要求嚴苛。本系列產品電壓精度低至2mV，輸出穩定可靠；在健全的質量管理體系下，產品通過高溫老化、高低溫工作（-40℃ / 85℃帶電工作）、溫度循環、溫度沖擊、絕緣耐壓等長期可靠性測試，可為DUT提供穩定、一致性更高的測試條件。

5、狀態全周期監控，異常早發現

具備Power Good功能，主控設備可全周期監控電源狀態，異常即刻反饋，有效避免因供電異常導致影響老化測試進度，進而引發的產能不足、交付延期等連鎖問題。

二、產品應用