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基于FPGA和Quartus II的程控濾波器測量系統的設計方案

作者: 時間:2013-12-13 來源:網絡 收藏
x; text-indent: 2em; font-family: 宋體, Georgia, verdana, serif; ">3.2 程控濾波器

 

本文引用地址:http://cqxgywz.com/article/227562.htm

圖4給出程控濾波器的連接電路圖,由四片LF356和一片TLC7528組成,其中LF356的增益帶寬積為5MHz,系統中的最高頻率為50KHz,故增益帶寬積選用LF356能滿足要求。

 

基于FPGA和Quartus II的程控濾波器測量系統的設計方案

 

TLC7528是電流型雙數模轉換芯片,數字電源采用5V供電,在電路中其等效為可變電阻。

3.3 軟件流程圖

軟件系統流程圖如圖5所示。

 

基于FPGA和Quartus II的程控濾波器測量系統的設計方案

 

本設計的控制MCU采用Altera的Nios軟核實現,軟件設計和編譯、調試在Nios IDE集成開發環境中完成。

軟件需要實現的功能有:高低通濾波器與幅頻特性測試功能的切換、前級放大增益的控制、濾波器截止頻率的更改,還要控制掃頻信號輸出、信號有效值回采和幅頻特性曲線的繪制。

本系統的功能切換并不復雜,需要控制的變量也不是很多,軟件設計采用模塊化和自頂向下的設計方式,軟件系統中主要分成按鍵(輸入)模塊、LCD(顯示)模塊、數值發送模塊、界面顯示更新模塊、輸入處理模塊等。每一個模塊是否執行是通過標志位來確定的,主程序通過死循環檢測每一個標志位的狀態,來確定應該進入哪一個模塊并實現相應的功能。

4.測試結果

固化程序后,用函數發生器和TDS1002B數字示波器來測試各指標,并分別記錄其測量數據。用函數發生器輸入頻率為1KHz,峰-峰值為20mV的正弦波,記錄程控放大器輸出端的測試值如表1所示。

 

基于FPGA和Quartus II的程控濾波器測量系統的設計方案

 

測量程控濾波器低通、高通特性,采用40dB的程控放大器增益,濾波器輸出接負載1KΩ,測量數據如表2所示。

 

基于FPGA和Quartus II的程控濾波器測量系統的設計方案

 

此外,設計的幅頻特性測試儀可測量程控濾波器的高通、低通特性曲線,并在液晶上打點繪制曲線。

橢圓濾波器測量時,輸入信號峰-峰值為5V,通帶內最大峰-峰值為5.12V,在室溫較高時測得截止頻率為52.03KHz,室溫較低時測得截止頻率為49.2KHz.由此可見,該設計受溫度影響較大,初步分析為電容的溫度系數太大造成的。

5.結論

本文提出了基于 的程控濾波器測量系統的設計方案。該方案以Altera公司的和Nois II為核心,采用運算放大器和模擬開關作為前級小信號放大器,以電流型DAC TLC7528等效為可變電阻,通過模擬電路構建傳遞函數實現可編程濾波,并通過查找表的方法數字合成正弦波通過DAC輸出。然后,通過合成信號對程控濾波器進行掃頻測試,并在實際焊接電路中實現,測試該可編程濾波器,前級的小信號增益可達1000倍,10dB步進。整個系統的構建可用于工程中信號的放大,濾波和檢波處理,而實現了智能化的控制。

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關鍵詞: FPGA Quartus II

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