引言

　　如同大家所熟悉的手提電腦背光源，是將很多個(gè)LED燈珠組合而成，則色差問題也越來越明顯。如果使用的LED燈珠不是同一批次的，則很容易導(dǎo)致波長不一、色差等問題，這一問題即使是使用同一批次的LED燈珠也在所難免。對于LED芯片的測試，一般采用積分球測試系統(tǒng)。

　　使用積分球測量光通量等參數(shù)，可使測量結(jié)果更為可靠。積分球可降低并除去由光線的形狀、發(fā)散角度等差異所造成的誤差。如此高精密且謹(jǐn)慎的測量，也推動(dòng)著LED積分球廠家越來越趨向于選擇更高性能的電源配置在該系統(tǒng)中，用來給待測LED供電。

　　1 LED積分球測試系統(tǒng)

　　LED積分球主要是測量LED燈的發(fā)光效率、顯色性及色差等表征LED發(fā)光源性能指標(biāo)的參數(shù)。在產(chǎn)線每天大批量的測試中，時(shí)刻面臨著兩個(gè)問題：一是如何提高測試效率 二是測量中如何更好地保護(hù)待測LED。

　　據(jù)了解，目前電源行業(yè)內(nèi)，從電源開啟給LED燈供電到軟件控制系統(tǒng)采集回穩(wěn)定的電壓電流數(shù)值，總時(shí)間大約為600ms，那在此基礎(chǔ)上是否有突破的可能性呢?答案是肯定的。那么能通過什么方法實(shí)現(xiàn)呢?其實(shí)系統(tǒng)中配置的用于給待測LED供電的電源就起著相當(dāng)重要的作用。

　　2 配置專業(yè)電源可抑制過沖與提高測試效率

　　一般的電源在開機(jī)瞬間，由于環(huán)路響應(yīng)時(shí)間的存在，電源輸出并非達(dá)到設(shè)定輸出電壓值即停止輸出。因此在這段時(shí)間內(nèi)，電壓會(huì)出現(xiàn)過沖。過高的過沖電壓會(huì)對LED壽命產(chǎn)生影響，嚴(yán)重的甚至擊穿LED。

　　對于小功率的LED燈，恒流工作電流通常在幾十到幾百毫安之間。當(dāng)以小電流工作時(shí)，電流和電壓爬升速度相應(yīng)下降，有時(shí)將LED點(diǎn)亮的時(shí)間，甚至比從正常的給LED燈供電到軟件控制系統(tǒng)采集回穩(wěn)定的電壓電流數(shù)值加起來所需的時(shí)間還要長。

　　面對如上兩點(diǎn)問題，若為了加快爬升速度，提高測試效率，采取提高環(huán)路速度的改善措施，則通常帶來更嚴(yán)重的過沖。但若為了照顧過沖的問題，則整體測試效率又會(huì)下降。這樣的難題，能夠通過配置專業(yè)測試LED的電源來實(shí)現(xiàn)，比如艾德克斯IT6874A電源就能將這一難題迎刃而解。圖2和圖3分別是IT6874A直流電源給80V/20mA和80V/400mA的LED供電時(shí)，電壓上升階段的波形圖。