Xradia公司近日宣布推出新款基于實驗室使用的計算機斷層掃描（CT）系統---UltraXRM-L200，該掃描系統在實驗室環境下能提供50納米分辨率的類似同步的三維成像。UltraXRM-L200是超高分辨率UltraXRM?納米系列X射線顯微鏡的最新成員。這款顯微鏡采用了最初研究用于同步研究裝置的最先進的X射線光學組件，以實現實驗室環境下的一流分辨率和效率。

“我們的承諾是不斷開發推動研究進步的系統，”Xradia公司創建人、總裁兼首席技術官Wenbing Yun博士表示。“最終，在實驗室環境以及在同步裝置中，我們在這一領域占有強大的領導地位，我們希望能幫助研究人員專注于他們自己的研究，而不是將他們的時間和資源都花費到打造他們的使用工具上。只有Xradia公司能商業化地供應這一分辨率(50納米)的X射線CT顯微鏡。 ”

Xradia公司的UltraXRM- L200顯微鏡將一個采用了專利的X射線光學部件的高通量實驗室X光光源整合到了一個獨立的CT掃描儀中。UltraXRM- L200的應用范圍不斷增大，包括應用于先進材料的開發、軟組織和骨骼的生命科學研究、對巖石孔隙進行研究以分析石油和天然氣鉆探的可行性模型，以及用于半導體封裝失效分析。

據弗吉尼亞理工大學生物醫學成像系教授兼主任Ge Wang博士表示，“Xradia公司的超高分辨率成像系統為我們提供了有關結構內部的詳細三維立體數據，并且不需要把相關的區域進行切割或切片---這擴展了所有研究實驗室的能力，因為我們可以在各種條件下測試，包括時差(time-lapsed)四維成像。UltraXRM-L200將有助于填補現有的高分辨率成像設備(如 SEM, TEM和AFM)與光學顯微鏡以及傳統的微型電腦成像系統之間的空白。”