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如何降低測試系統開關噪聲(04-100)

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作者: 時間:2008-04-01 來源:電子產品世界 收藏

  解決問題的步驟

本文引用地址:http://cqxgywz.com/article/81053.htm

  解決問題有3個步驟

  ·必須識別源;

  ·必須確定接收點;

  ·必須確定耦合方法。

  至于開關系統中的內部噪聲源可由下列原因產生:驅動開關的電路,開關上的熱不穩定性,來自系統中其他導體的耦合噪聲和系統外部所產生的噪聲。

  來自鄰通道的噪聲耦合到測量通道,對信號完整性是一個威脅。耦合噪聲的最重要的原因是電導耦合,共阻抗耦合以及電場和磁場。

  另外,某些系統對來自電動作、熱耦噪聲、電解動作,熱電效應和導體運動引起的噪聲敏感。開關系統電路也對來自無線電、電視和其他無線廣播的電磁輻射敏感。

  用機械設計可使熱不穩定性最小,保證繼電器中的所有接觸點得到在引腳線中相同的溫度梯度,或用閉鎖繼電器使熱穩定度最小,只要有可能,就采用閉鎖繼電器,閉鎖繼電器繞組被激勵只是瞬時,通常15~20ms使繼電器觸點傳輸和閉鎖。從而使熱產生源減少,而對于采用非閉鎖電樞繼電器來講,這是主要的熱產生源。

  適當地屏蔽和接地技術可有效地解決硬連線系統中的很多噪聲耦合問題。但是,當信號必須選擇開關到示波器、計數器或其他測量儀器時,問題變得嚴重了。

  很多情況下,噪聲源是系統中的鄰通道串擾。在簡化的等效電路(圖2)中,開關系統中的大多數寄生電容跨接在斷開觸點和鄰近導通通路之間。如同任何電容那樣,噪聲耦合是面積和距離的函數。所以,降低耦合的簡單方法是開關和導線彼此之間的分離。



關鍵詞: 測試 噪聲 DUT

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