用在各種ATE中的集成邊界掃描(06-100)
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靠外部測試通道補充UUT板上測試資源，可以擴展測試覆蓋范圍到外設連接的UUT接口電路。特別是當用外部接入到網上測試點而通過邊界掃描不可接入時，可以改善診斷輸出。
本文引用地址：http://cqxgywz.com/article/81439.htm盡管用邊界掃描I/O測試器硬件可以改善測試覆蓋范圍和診斷性能，但此方法會引起新的問題。在開發邊界掃描測試僅僅考慮UUT的測試資源，那么所有測試覆蓋范圍統計都是僅基于網數和UUT上的測試點數。然而增加測試儀資源到邊界掃描裝置，其測試資源本身包含自動調節測試覆蓋范圍分析器。
對于測試生成，邊界掃描I/O測試儀資源與UUT網表融合。而所產生的測試程序是基于該整合網表。這導致測試覆蓋分析期間所評估的網和引腳數的增加。測試覆蓋分析結果不再表示UUT，而是組合的UUT和測試儀I/O配置。
表1給出這種組合網數對邊界掃描互連測試實例測試覆蓋范圍統計的影響。當希望分析邊界掃描對專門UUT和增加I/O資源的適應性時，這種偏移的測試覆蓋統計使人費解。
為了測試程序產生使邊界掃描I/O資源與UUT網表融合，所以，所開發的測試圖形只可以在這種測試儀配置上執行。隨著邊界I/O資源數、命令或類型的變化，測試圖形必須盡快地做相應修正。
增加邊界掃描I/O資源到測試裝置引起的另一個問題是增加掃描鏈長度。需要另外的TCK時鐘來移位通過邊界掃描I/O模塊的測試圖形，這會導致較長的測試執行時間，并降低有效的測試吞吐量。然而，這樣的I/O模塊可以連接到一個分離的邊界掃描鏈，這會降低或者消除對測試執行時間的影響。
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