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用在各種ATE中的集成邊界掃描(06-100)

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作者: 時間:2008-04-10 來源:電子產品世界 收藏
  在內電路測試系統中,外設接口連接器通過測試夾具實現接入。靠內電電路測試器的I/O資源實現測試通道。用在可單獨應用測試系統的同一測試程序控制的掃描鏈和內電路測試通道。

  功能測試系統通過連接到測試儀I/O資源的并行I/O模塊提供到外設接口連接器的接入。在這種配置中,采用在可單獨應用系統和內電路測試儀中用的同樣程序。

本文引用地址:http://cqxgywz.com/article/81439.htm

  不同測試系統的I/O資源控制通過混合掃描驅動器實現,混合掃描驅動器用軟/硬件接口軟件和測試儀配置。

  結語

  HYSCAN給出不同板級中集成邊界掃描的另一方案。這一方案為不同的測試通道類型、精確的測試結果和測試覆蓋范圍統計之間提供便攜性。UUT和測試I/O資源不必為了測試程序產生的目的而融合,而邊界掃描測試開發與測試適配器類型和執行的測試系統無關。HYSCAN限于數字I/O,它能提供到混合信號測試的擴展。(益林)


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關鍵詞: ATE 邊界掃描 UUT

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