- 2008年11月——美國國家儀器有限公司(National Instruments,簡稱NI)2008年度 “NIDays全球圖形化系統設計盛會”中國站于11月18日在上海國際會議中心圓滿落幕。600余位工程師、11家國內外知名測試測量企業以及20多家行業媒體到會。圍繞“工程師的奧林匹克——綠色應用,科技共享”的主題,本次NIDays技術盛會通過5大專題、18場技術講座,逾40種案例演繹與新品展示等,向參會
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NIDays 測試測量 LabVIEW
- 安捷倫科技公司在 全球峰會(LTE World Summit)上展示了LTE 測試解決方案,并對這個專門設計的、強大和可擴展的進行演示,展示了在 LTE 用戶設備開發周期(從早期協議開發到一致性測試)各個環節的測試功能。
安捷倫科技副總裁兼安捷倫歐洲、中東地區和非洲市場銷售總經理 Benoit Neel表示,“安捷倫是測量行業的領導者,可為整個 LTE 開發周期提供解決方案。我們已經開發了一些率先面市的 LTE 測試產品,確保成功部署 LTE,使之滿足快速上市的目標。&r
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安捷倫,測試測量
測試測量介紹
電子測試測量儀器:示波器(數字、模擬、手持式)、信號發生器(任意波、調頻調幅、音頻、射頻)、頻率計、電源、臺式萬用表、頻譜分析儀、毫伏表、微歐
表、鉗表、功率表、LCR、IC測試儀、耐壓/絕緣測試儀……
通信測試測量儀器:光時域反射儀(OTDR)、光纖熔接機、光萬用表、光源、光電話、光功率計、2M測試儀、協議分析儀、無線電綜合測試儀、數字電纜分析測試
儀、電纜故障測 [
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