- 失效率（或稱基準失效率）指單位時間內的故障次數，其常用單位為故障數 / 十億小時（FIT），即十億小時內出現一次故障，該指標用于衡量產品在使用壽命內的故障概率。圖 1 為電子元器件的可靠性浴盆曲線模型，該曲線分為三個階段：早期失效（又稱早期損耗失效）階段、使用壽命（又稱恒定失效 / 隨機失效）階段、耗損失效階段。本文的討論重點為元器件使用壽命階段的失效率。1. 顯示為可靠性浴缸曲線。了解電子系統中元件的失效率對于進行可靠性預測以評估整體系統可靠性至關重要。可靠性預測涉及指定可靠性模型、應假設的失效模式、診
- 關鍵字：
失效率 集成電路 預測技術 Arrhenius HTOL SN 29500 IEC 62380
- _____隨著技術的不斷進步，新型功率器件如碳化硅（SiC）和氮化鎵（GaN）因其優異的性能被廣泛應用于各種電子設備中。然而，這些器件在長期連續使用后會出現老化現象，導致性能退化。如何在短時間內準確評估這些器件的老化特性，成為行業關注的焦點。目前，針對功率器件的老化測試主要包括多種不同的測試方式。其中，JEDEC制定的老化測試標準（如HTGB、HTRB、H3TRB和功率循環測試）主要針對傳統的硅基功率器件。對于新型的SiC等功率器件，AQG-324標準進一步要求增加動態老化測試，如動態柵偏和動態反偏測試。
- 關鍵字：
功率器件 老化特性 HTOL 高溫工況 老化測試
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